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            北京志鴻恒拓科技有限公司

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            原裝Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀

            參   考   價(jià):面議
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            產(chǎn)品型號:

            品       牌:其他品牌

            廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

            所  在  地:北京市

            更新時(shí)間:2024-09-27 15:32:35瀏覽次數(shù):2174

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            原裝Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀供應(yīng)Sinton 少子壽命測量儀,BCT-400測試硅錠,BLS-I測試硅棒,Sinton X-閃光燈頭,Sinton X5D閃光燈頭,Sinton X閃光燈座。

            Sinton BCT-400少子壽命測量儀

            BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.

            是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測

            原裝Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀

            供應(yīng)Sinton 少子壽命測量儀,BCT-400測試硅錠,BLS-I測試硅棒,Sinton X-閃光燈頭,Sinton X5D閃光燈頭,Sinton X閃光燈座。

            Sinton BCT-400少子壽命測量儀

            BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.

            是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測量模式。該設(shè)備可探測3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實(shí)現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測量,并能通過軟件端光強(qiáng)偏置實(shí)現(xiàn)單晶缺陷密度計(jì)算。

            Sinton BLS-I少子壽命測量儀

            BLS-I測量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量,除需要有一個(gè)測量平面外,對樣塊 體形無嚴(yán)格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測項(xiàng)目。

            原裝Sinton BCT-400/BLS-I少子壽命測量儀

            供應(yīng)Sinton 少子壽命測量儀,BCT-400測試硅錠,BLS-I測試硅棒,Sinton X-閃光燈頭,Sinton X5D閃光燈頭,Sinton X閃光燈座。

            Sinton BCT-400少子壽命測量儀

            BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.

            是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測量模式。該設(shè)備可探測3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實(shí)現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測量,并能通過軟件端光強(qiáng)偏置實(shí)現(xiàn)單晶缺陷密度計(jì)算。

            Sinton BLS-I少子壽命測量儀

            BLS-I測量系統(tǒng)用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量,除需要有一個(gè)測量平面外,對樣塊 體形無嚴(yán)格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體 內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測項(xiàng)目。

            原裝德國 mahr Digim

            原裝德國 mahr Digimar 816 CL高

            原裝FLIR MR176 濕度

            原裝FLIR MR176 濕度測量儀菲利爾MR17

            原裝Testo 435-1測量

            原裝Testo 435-1測量儀testo 435

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