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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀采用*進(jìn)的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）和電泳光散射（ELS）技術(shù)，即可以多角度（步長(zhǎng)0.9°）檢測(cè)分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測(cè)量Zeta電位。
詳細(xì)介紹
NICOMP 380 Z3000納米粒徑與電位分析儀采用*進(jìn)的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)和電泳光散射(ELS)技術(shù)，即可以多角度（步長(zhǎng)0.9°）檢測(cè)分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度測(cè)量Zeta電位。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
1 測(cè)試粒徑范圍可選0.3nm-10um。
2 精確度高，重現(xiàn)性好，誤差小于1%。
3 Zeta電位運(yùn)用了多普勒電泳遷移原理以及的相位分析散射法可以測(cè)試水相和有機(jī)相的樣品。
4 *的Nicomp和高斯兩種擬合粒徑分布。
5 的自動(dòng)稀釋模塊，可自動(dòng)將樣品濃度稀釋到適合檢測(cè)范圍。
6 操作非常簡(jiǎn)單，樣品放入檢測(cè)池后輕松點(diǎn)擊圖標(biāo)就可完成測(cè)試。
7 【USP729】檢測(cè)項(xiàng)目I推薦; 符合中國(guó)藥典2010版。
8 特為多組分不均勻體系設(shè)計(jì)。
9 模塊化設(shè)計(jì)便于維護(hù)和升級(jí)，可配搭多種功率光源和檢測(cè)器。