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三維表面測量系統(tǒng)布魯克NPFLEX三維表面測量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測量提供了靈活的非接觸式的方案，超過300度的測量空間，克服了以往由于零件某些角度或取向問題...
直讀光譜儀用于金屬材料分析的全譜直讀光譜儀它具備良好分析性能、使用方便，是一種基于 CCD 檢測器的金屬材料分析全譜直讀光譜儀。
光學輪廓儀系統(tǒng)?光學輪廓儀系統(tǒng)適用于科研和生產(chǎn)的高質(zhì)量表面測量手段ContourGT-I3D光學顯微鏡將三十多年表面測量經(jīng)驗和技術(shù)融合到單一平臺上，實現(xiàn)調(diào)整校準...
輕便型直讀光譜儀Q2 IONBruker設(shè)計的直讀光譜儀Q2 ION是現(xiàn)今市場上輕便的直讀光譜儀。Q2可同時配備多種基體例如鐵、鋁和銅, 能夠很好地中小鑄造企業(yè)...
藝術(shù)與考古分析儀TRACER 5i是Bruker公司2016年底新發(fā)布的科研型手持式XRF設(shè)備，也稱便攜式XRF。是繼原有Tracer家族系列后, Bruker...
涂層測厚儀SURFIX®系列用于鋼/鐵以及有色金屬的清漆、油漆和電鍍涂層的測量
哈氏槽黃銅片，陽塊，鎳陽，波紋吸盤，哈氏槽，磷銅陽，純錫陽，整流器，哈氏片
微聚焦熒光光譜儀M6 JETSTREAMM6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
直讀光譜儀Q8MAGELLAN 是一款具備技術(shù)、靈活性和操作便利性的火花直讀光譜儀。它是一款采用通道光電倍增管技術(shù)、數(shù)字等離子發(fā)生器、單火花和時間分辨率并配有免...
納米力學測試系統(tǒng)布魯克的海思創(chuàng)TI 980 TriboIndenter同時具有高的性能、靈活性、可信度、實用性和速度。基于海思創(chuàng)幾十年的技術(shù)，他為納米力學表征帶...
摩擦磨損儀布魯克UMT摩擦磨損儀由于其良好的兼容新和多模塊化設(shè)計得到了市場。良好的設(shè)備兼容性設(shè)計理念，可以使一個樣品在同一個實驗設(shè)備上實現(xiàn)多種性能表征，大大節(jié)省...
TXRF全反射X射線熒光光譜儀S4 TSTAR數(shù)十年來，X 射線熒光（XRF）光譜法在多個行業(yè)中被廣泛用于對固體和石油化工樣品進行元素分析，檢測限值低于PPb ...
貴金屬檢測采用了具有布魯克SharpBeam™優(yōu)化檢測器,S1TITAN運行時功率很低，從而大大使電池壽命增加。S1TITAN較寬的元素范圍使它適合...
涂層測厚儀PHYNIX涂層測厚儀也被用于許多研究機構(gòu)和實驗室，例如為了開發(fā)新的涂層和鍍膜方法。是眾多對我們設(shè)備的測量精度充滿信心的原因所在。
金屬回收檢測儀手持式X射線熒光光譜儀（俗稱手持金屬成份分析儀）是金屬回收、再利用中的常用設(shè)備。布魯克手持光譜儀采用了現(xiàn)代SDD(硅漂移探測器)技術(shù),與傳統(tǒng)的基于...
大尺寸鍍層測厚儀M2 BLIZZARD是布魯克公司推出的一款微區(qū)X射線熒光光譜儀，依據(jù)ASTMB568和DIN/ISO 3497，對材料成分和多層涂層厚度進行無...
薄膜應力及基底翹曲測試設(shè)備 FSM推出基于商業(yè)化應用的激光掃描光學杠桿（Optilever）技術(shù)，主要應用于薄膜應力和晶圓彎曲測量。該設(shè)備頻繁使用在分析解決諸如...
原子力顯微鏡Dimension FastScanDimensionFastScan原子力顯微鏡(AFM)在不損失Dimension®Icon®...
能量色散X射線熒光光譜儀能量色散X射線熒光光譜儀主要用途包括兩個方面，元素成分定性及定量分析、涂覆層厚度分析。
手持式油品分析儀S1 TITAN Bruker手持式油品分析儀CTX™800/600以及S1TITAN600/800配置的MetalinOil曲線能...
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