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            當(dāng)前位置:上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>>>物理特性儀器>>測(cè)厚儀>> Frontier Semiconductor光學(xué)膜厚測(cè)量設(shè)備

            光學(xué)膜厚測(cè)量設(shè)備

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)Frontier Semiconductor

            品       牌其他品牌

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地上海市

            更新時(shí)間:2023-05-24 13:19:31瀏覽次數(shù):551次

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            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 產(chǎn)品種類 非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
            價(jià)格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,航空航天,公安/司法,汽車及零部件,電氣
            三維表面測(cè)量系統(tǒng)
            布魯克NPFLEX三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測(cè)量空間,克服了以往由于零件某些角度或取向問題造成的測(cè)量困難。NPFLEX是針對(duì)大型、異型工件進(jìn)行非接觸測(cè)量,獲得微米級(jí)、毫米級(jí)樣品形貌特征的三維表面測(cè)量系統(tǒng)。

            產(chǎn)品品牌:Bruker

            產(chǎn)品型號(hào):NP Flex

            產(chǎn)品描述:布魯克NPFLEX 三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測(cè)量空間,克服了以


            三維表面測(cè)量系統(tǒng)

               為大尺寸工件加工提供非接觸準(zhǔn)確測(cè)量布魯克的NPFlex三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案,可廣泛用于醫(yī)療植入,航空航天、汽車或加工上的大型、異型工件的測(cè)量?;诎坠飧缮嬖?,NPFlex為用戶提供超過接觸式方法所能達(dá)到的更大數(shù)據(jù)量、更高分辨率和更好的重復(fù)性,使它成為互補(bǔ)型的測(cè)量方案。

               開放式的龍門設(shè)計(jì)克服了以往某些零件由于角度或取向造成的測(cè)量困難,現(xiàn)在NPFlex可實(shí)現(xiàn)超過300度的測(cè)量空間。NPFlex的靈活性、數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性和測(cè)試效率為加工行業(yè)提供了一種簡單的方法,來實(shí)現(xiàn)其更苛刻的加工要求、加工工藝和更好的終端產(chǎn)品。

               布魯克NPFLEX三維表面測(cè)量系統(tǒng)為大樣品的表面表征測(cè)量提供了靈活的非接觸式的方案,超過300度的測(cè)量空間,克服了以往由于零件某些角度或取向問題造成的測(cè)量困難。NPFLEX是針對(duì)大型、異型工件進(jìn)行非接觸測(cè)量,獲得微米級(jí)、毫米級(jí)樣品形貌特征的三維表面測(cè)量系統(tǒng)。

               其靈活性表現(xiàn)在可用于測(cè)量表征更大的面型和更難測(cè)的角度

               ·空間設(shè)計(jì)使得可測(cè)零件(樣品)更大、形狀更多

               ·開放式龍門、定制的夾具和可選的搖擺測(cè)量頭可輕松測(cè)量想測(cè)部位

               三維表面信息測(cè)量

               ·每次測(cè)量均可獲取多種分析結(jié)果

               ·更容易獲得更多的測(cè)量數(shù)據(jù)來幫助分析

               垂直方向可達(dá)納米級(jí)分辨率,提供更多的細(xì)節(jié)

               ·干涉技術(shù)實(shí)現(xiàn)每一個(gè)測(cè)量象素點(diǎn)上亞納米級(jí)垂直分辨率

               快速獲取測(cè)量數(shù)據(jù),測(cè)試過程迅速

               ·少的樣品準(zhǔn)備時(shí)間和測(cè)量準(zhǔn)備時(shí)間

               ·比接觸法測(cè)量(一條線)更大的視場(一個(gè)面)獲得表面更多的數(shù)據(jù)




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