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            上海富瞻環(huán)?？萍加邢薰?
                                                                        
            
										  初級(jí)會(huì)員 | 第8年									
            
                                    								
            

							
            
						
            
                        

					
            
										
            
						
            
                            							
            
								
            
								
            
									
            18930218592
            
								
            
							
            
                            						
            
					
            
										
				
            
			
            
			
            
				
            
					
				
            
			
            
		
            

		
		 
				
            
			
            
				
			
            
		
            
		
            
			
            
				
            
					
            硅片表面形貌測(cè)量 
            
					
                                
					                        
						
            
                        
            
                            						        
            
							    
							    								    
            參  考  價(jià)面議  
            
							    								
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            
						    
            
                            						    
							    
            
								    
            
									    
            產(chǎn)品型號(hào)VIT系列
            
									    
            品       牌Bruker/布魯克
            
		                                
            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
            
		                                									    
            所  在  地上海市
            
								    
            
								    
                                    
            
                                                                             
            
								    
            
									    
            
										    更新時(shí)間：2023-05-24 16:24:24瀏覽次數(shù)：402次
									    
            
									    聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)
								    
            
						    
            
						    
                        
            
											
            
                        
					                    
            			 
				
            
			
            
		
            
		
            
			
            
				
            
					
            
						同類優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品更多>
					
            
					
				
            
			
            
		
            
		
            
			
            
				
            
					
            
						

						



						



            
				    
            
				        				        
				        
            
				            
            
				                
            
				                    				                    				                    
            
				                        				                        產(chǎn)地類別
				                        進(jìn)口
				                        				                    				                    				                        產(chǎn)品種類
				                        非接觸式輪廓儀/粗糙度儀
				                        				                    
            
				                    				                    				                    				                    
            
				                        				                        價(jià)格區(qū)間
				                        面議
				                        				                    				                    				                        應(yīng)用領(lǐng)域
				                        電子/電池,航空航天,公安/司法,汽車及零部件,電氣
				                        				                    
            
				                    				                    				                
            
				            
            
				            
            
				            NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
            -TSV profile (depth,  bottom CD, tilt, SWA)
            -Residue Detection
            -RST
            -Copper Nail Height
            -Bump Height and Cu pillar height
            -Edge trim profile
            
				        
				        
            
				            
            硅片表面形貌測(cè)量VIT系列
            NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
            -TSV profile (depth,  bottom CD, tilt, SWA)
            -Residue Detection
            -RST
            -Copper Nail Height
            -Bump Height and Cu pillar height
            -Edge trim profile
            3DIC TSV and BWS TTV硅片表面形貌測(cè)量
            Film Stress薄膜應(yīng)力量測(cè)儀
            FEOL Electrical Characterization 電學(xué)特性
            Thin wafer metrology 晶圓測(cè)量學(xué)
            Film Adhesion漆膜附著力測(cè)試NEW: Virtual Interface Technology for 3D-IC Metrology:
            -TSV profile (depth,  bottom CD, tilt, SWA)
            -Residue Detection
            -RST
            -Copper Nail Height
            -Bump Height and Cu pillar height
            -Edge trim profile

            
				        
            
                                                                                        				    
            
				
            
			
            
		
            

       
        

		

        

		



  
    
    				
			

		
    
    
    
    
    
    
    
    
    
    

    

     
     
     
	 




	 
	
	
	

            
	
            
		
            
			
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