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            3938E57 1nm 掃描電遷移率粒徑譜儀

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)

            品       牌TSI/美國(guó)

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地上海市

            更新時(shí)間:2023-06-07 16:56:20瀏覽次數(shù):303次

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            應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品/農(nóng)產(chǎn)品,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥
            3938E57 1nm 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS™)
            商品編號(hào): 3938E57
            使用第二代1-nm粒徑譜儀將您的測(cè)量能力升級(jí)至檢測(cè)極限。30多年來(lái),TSI的SMPS™粒徑譜儀被廣泛作為測(cè)量亞微米和低納米范圍內(nèi)氣溶膠粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)。SMPS系統(tǒng)包括3757型納米增強(qiáng)CPC以及3086型差分靜電遷移分析儀(DMA)的配合使用,可以以高分辨率和高速度測(cè)量粒徑和數(shù)量濃度,并監(jiān)測(cè)小于1nm的工程。

            3938E57 1nm 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS™)

            商品編號(hào): 3938E57

            使用第二代1-nm粒徑譜儀將您的測(cè)量能力升級(jí)至檢測(cè)極限。30多年來(lái),TSI的SMPS™粒徑譜儀被廣泛作為測(cè)量亞微米和低納米范圍內(nèi)氣溶膠粒徑分布的標(biāo)準(zhǔn)。SMPS系統(tǒng)包括3757型納米增強(qiáng)CPC以及3086型差分靜電遷移分析儀(DMA)的配合使用,可以以高分辨率和高速度測(cè)量粒徑和數(shù)量濃度,并監(jiān)測(cè)小于1nm的工程和天然氣溶膠粒子的反應(yīng)動(dòng)力學(xué)和新粒子生成。



            產(chǎn)品詳情

            1納米SMPS系統(tǒng)結(jié)合了TSI在粒子分級(jí)和計(jì)數(shù)方面的傳統(tǒng)優(yōu)勢(shì),并采用了能夠測(cè)量小于1納米粒子的新技術(shù)。優(yōu)化后的3086型差分靜電遷移分析儀能夠進(jìn)一步降低了這些微小粒子的擴(kuò)散損失。3757型納米增強(qiáng)儀介于DMA和標(biāo)準(zhǔn)CPC之間,采用二甘醇對(duì)1納米粒子預(yù)生長(zhǎng),進(jìn)而實(shí)現(xiàn)CPC檢測(cè)。新的納米增強(qiáng)儀設(shè)計(jì)加強(qiáng)了CPC與納米增強(qiáng)儀的集成性,使系統(tǒng)的設(shè)置和使用更加容易。

            研究人員通過(guò)使用這些儀器,可以將粒子研究推向令人興奮的新領(lǐng)域。關(guān)鍵應(yīng)用包括:

            大氣研究 -監(jiān)測(cè)新的粒子形成和動(dòng)力學(xué)、云凝聚,并縮小質(zhì)譜儀與常規(guī)粒子粒徑分布測(cè)量之間的差距。非常適合高污染城市中的亞3nm粒子和粒子源研究以及健康影響因素研究

            材料科學(xué) - 系統(tǒng)可以可靠的近實(shí)時(shí)反饋監(jiān)測(cè)和表征亞3nm粒子,非常適合基于氣溶膠的工程納米粒子合成、納米粒子功能化、納米分析化學(xué)、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)控制和催化劑合成。

            1nm SMPS不僅僅是能觀察1nm以上成核的檢測(cè)器,還是全面的粒子光譜儀,能夠以的分辨率顯示了這些事件中的粒徑分布情況。

            組件的模塊化非常便于用戶(hù)根據(jù)測(cè)量需求定制系統(tǒng):節(jié)省您的時(shí)間和金錢(qián)。如果您已經(jīng)擁有一套配備了3750 型CPC的3938系列SMPS系統(tǒng),您只需再增加一臺(tái)1NM DMA差分靜電遷移分析儀和納米增強(qiáng)儀,無(wú)需調(diào)整您的分級(jí)器和高級(jí)中和器,且您將免費(fèi)更新到最新版本的AIM軟件

            應(yīng)用

            • 基礎(chǔ)氣溶膠研究

            • 通過(guò)粒子源(如火焰合成、激光燒蝕、火花產(chǎn)生和成核/凝結(jié))研究粒子成核和粒子生長(zhǎng)。

            • 燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣研究(有機(jī)燃料、低于3nm的排放、天然氣發(fā)動(dòng)機(jī)、塑料成型和焊接

            • 過(guò)濾研究

            • 吸入或暴露室研究

            *健康影響因素研究*功能和優(yōu)點(diǎn)中的介紹基于下列假設(shè):SMPS光譜儀包含3082型分級(jí)器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強(qiáng)儀和3750型凝聚核粒子計(jì)數(shù)器等組件。

            特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)

            • 快速獲得粒徑和數(shù)量濃度的高分辨率數(shù)據(jù)

              • 優(yōu)化使擴(kuò)散損失最小

              • 1-50nm間通道數(shù)多達(dá)217個(gè)

              • 配合3081A長(zhǎng)DMA差分靜電遷移分析儀使用,可測(cè)量從1nm到1µm 3個(gè)粒徑數(shù)量級(jí)的粒子

            • 模塊化組件設(shè)計(jì),可以根據(jù)用戶(hù)測(cè)量需求定制,例如單獨(dú)使用1nm CPC等。

            • 內(nèi)置診斷和自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)組件,可以獲得可靠和可重復(fù)的測(cè)量數(shù)據(jù)。

            • 易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器(AIM)軟件。

            • 多功能的粒子測(cè)量方式:適用于多模樣品。





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