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布魯克透射電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95 返回列表頁

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產(chǎn)品型號

品牌Bruker/布魯克

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2024-05-22 18:36:44瀏覽次數(shù)：292次

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產(chǎn)品分類品牌分類

測量/計(jì)量儀器: 耗材全自動二次元測量儀線寬線徑測量儀激光干涉儀視覺檢測儀水滴/液滴分析儀晶圓厚度測量儀芯片應(yīng)力測試儀薄膜應(yīng)力翹曲度儀輪廓測試儀聲速儀地面滑度摩擦測試儀千分尺光纖認(rèn)證測試儀激光測距儀 UV能量測試儀電梯限速器測試儀密度儀張力儀轉(zhuǎn)速、振動、頻閃儀表界面物性測試

全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	價(jià)格區(qū)間	面議
儀器種類	納米壓痕/劃痕儀（一體化））	應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

布魯克透射電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95
布魯克Hysitron PI 95是TEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng)，在TEM上檢測時(shí)，直接觀察檢測過程，使用側(cè)面進(jìn)樣支架，不僅可以實(shí)現(xiàn)納米尺度材料的成像觀察，還可以同時(shí)進(jìn)行加熱和通電測試，并同步得到材料的力學(xué)數(shù)據(jù)，通過視頻接口可以將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷位移曲線）與相應(yīng)TEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步。

詳情介紹

布魯克透射電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng)PI 95

布魯克Hysitron PI 95是TEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng)，在TEM上檢測時(shí)，直接觀察檢測過程，使用側(cè)面進(jìn)樣支架，不僅可以實(shí)現(xiàn)納米尺度材料的成像觀察，還可以同時(shí)進(jìn)行加熱和通電測試，并同步得到材料的力學(xué)數(shù)據(jù)，通過視頻接口可以將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷位移曲線）與相應(yīng)TEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步。

該系統(tǒng)為方便研究者瞬間得到特定參數(shù)，比如化學(xué)復(fù)合物的種類，或?qū)Σ牧弦呀?jīng)造成的影響，除成像外，選擇區(qū)域衍射可以檢測樣品的取向，原位力學(xué)檢測可以實(shí)時(shí)觀測和驗(yàn)證。

適用JEOL、FEI、Hitachi、Zeiss（不適用于UHR極靴）的PI 95可在納米尺度既可以輕松完成材料的電學(xué)測試，也可以同時(shí)進(jìn)行拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)實(shí)驗(yàn)。后續(xù)可升級模塊有高溫臺、原位力電性能測試、納米劃痕等。

布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)PI 88

布魯克Hysitron PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測試系統(tǒng)，其最大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化，后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。

該系統(tǒng)通過視頻接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷-位移曲線）與相應(yīng)SEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步，允許研究者在整個(gè)測試過程中極其精確地定位壓頭并對變形過程成像。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法，只能通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化，因無法監(jiān)測中間過程，而最終對載荷-位移曲線上的一些突變無法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問題。

PI 88安裝于SEM，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下進(jìn)行壓痕、壓縮、彎曲、劃痕、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測試；此外，通過升級電學(xué)、加熱模塊，還可研究材料在力、電、熱等多場耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系。

布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng) PI 85L

布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng)，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測整個(gè)材料動態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化，中間過程無法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋，甚至單從曲線分析會導(dǎo)致錯(cuò)誤的解釋。

PI 85L安裝于電鏡，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測試，可以借助電鏡的高分辨率，觀測并記錄整個(gè)材料測試過程，觀測材料在力下發(fā)生的動態(tài)變化，如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。

PI 85L采用Hysitron技術(shù)三板電容傳感器，具備載荷和位移同時(shí)監(jiān)測和驅(qū)動的功能。具備業(yè)界的精度，重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點(diǎn)。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇，如動態(tài)力學(xué)測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學(xué)測試、納米劃痕等功能模塊。

布魯克高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)TI Premier

定量的納米力學(xué)

布魯克專門設(shè)計(jì)的Hysitron TI Premier 納米力學(xué)測試儀器在緊湊平臺中提供了業(yè)界的、定量納米力學(xué)表征技術(shù)。以被廣泛驗(yàn)證的Hystrion 技術(shù)為基礎(chǔ)，TI Premier 提供了納米力學(xué)和摩擦學(xué)測試的工具包?？梢圆捎肨I Premier 的多種基本配置完成常規(guī)的測量到高ji的研究，同時(shí)多樣化的升級選項(xiàng)可以滿足您未來表征的潛在多樣性的需求。

原位掃描探針顯微鏡成像

原位形貌成像，大限度地測試定位準(zhǔn)確性

納米壓痕

定量模量、硬度、蠕變、斷裂韌性和應(yīng)力松弛表征

納米劃痕

納米劃痕、抗劃傷性、薄膜附著力和摩擦系數(shù)測試

納米磨損

在良好控制的摩擦學(xué)條件下，量化磨損量和磨損率

布魯克Hysitron TI Premier高精度納米力學(xué)測試系統(tǒng)是布魯克公司研制的自動化、高通量測試儀器，通過納米級位成像，可實(shí)現(xiàn)壓痕、劃痕和磨損過程的納米尺度原位可視化表征。Hysitron（海思創(chuàng)）應(yīng)用其工藝的ZG技術(shù)“三板電容傳導(dǎo)"，從源頭上保證了儀器穩(wěn)定性和靈敏度。使用Hysitron（海思創(chuàng)）納米力學(xué)材料檢測系統(tǒng)通過探針可以獲得材料微區(qū)的硬度、彈性模量、摩擦系數(shù)、磨損率、斷裂剛度、失效、蠕變、粘附力（結(jié)合力）等力學(xué)數(shù)據(jù)。后續(xù)可選擇升級模塊有高溫臺、電學(xué)性能測試、濕度控制模塊、冷臺、與拉曼連用等。不僅在微納米水平上開展力學(xué)行為特性的研究，還可以進(jìn)行納米尺寸上的機(jī)械加工。