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            上海富瞻環(huán)保科技有限公司
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            IONOPTIKA GCIB10S 離子源系統(tǒng)

            參  考  價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號

            品       牌IONOPTIKA

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地上海市

            更新時間:2024-11-05 12:52:12瀏覽次數(shù):138次

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
            產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
            儀器種類 四極桿質(zhì)譜 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,食品/農(nóng)產(chǎn)品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥
            IONOPTIKA GCIB10S 離子源系統(tǒng)
            GCIB 10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束,用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。
            GCIB 10S提供了大量有用的功能,包括實時集群大小測量和內(nèi)置樣本電流成像系統(tǒng),以幫助您充分利用實驗。
            GCIB 10S具有完整的泵送系統(tǒng)和單獨軟件,是一種栓接式升級,將集束束濺射的力量引入現(xiàn)有的真空儀器,如XPS、SEM和SIMS。

            IONOPTIKA GCIB10S 離子源系統(tǒng)


            產(chǎn)品特點

            GCIB10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束,用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。GCIB 10S提供了大量有用的功能,包括實時集群大小測量和內(nèi)置樣本電流成像系統(tǒng),以幫助您充分利用實驗。

            詳細介紹


            簡介:

            GCIB 10S是一種高性能10千伏氣體團簇離子束,用于快速、低損傷濺射和更高質(zhì)量的表面分析。

            GCIB 10S提供了大量有用的功能,包括實時集群大小測量和內(nèi)置樣本電流成像系統(tǒng),以幫助您充分利用實驗。 

            GCIB 10S具有完整的泵送系統(tǒng)和單獨軟件,是一種栓接式升級,將集束束濺射的力量引入現(xiàn)有的真空儀器,如XPS、SEM和SIMS。

            主要參數(shù):

            主要應(yīng)用                濺射            
            光斑尺寸                250 µm                
            掃描范圍                7.5 x 7.5 mm                
            能耗范圍                1 – 10 kV                
            電流范圍                60 nA                
            法蘭至機頭長度                143 mm               
            推薦工作距離                50 mm                
            電源裝置                3U x 19’’ rack mountable unit    
            電源要求                110-240VAC 13A 50/60Hz                
            軟件要求                        PC running Windows 10 or later                   
            集成法蘭規(guī)格                NW 63 CF                


            特點:  

            ◇  10kV氬團簇離子源,可選擇Ar1至>Ar3000的團簇;

            ◇  實時集群測量和調(diào)整;

            ◇  采樣電流成像;

            ◇  光斑尺寸大,掃描范圍寬,可均勻去除材料;

            ◇  易于安裝在許多高真空儀器上;

            ◇  單獨軟件和基于web套接字的API,用于與第三方軟件集成


            應(yīng)用技術(shù): 

            GCIB 10S可去除不定碳和其他表面污染,而不會損壞基材, 同時還可對有機物和聚合物等軟材料進行無損傷深度剖析。

            右圖顯示了分別使用Ar1和Ar2000蝕刻原始PET表面前后的C 1s 峰值。數(shù)據(jù)清楚地顯示了單原子Ar1束(紅色)造成的化學(xué)損傷,而光譜在暴露于Ar2000束(藍色)后幾乎保持不變         


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