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            順磁管(短)

            參  考  價(jià)面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)

            品       牌富瞻

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地上海市

            更新時(shí)間:2024-11-06 13:53:55瀏覽次數(shù):232次

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            供貨周期 現(xiàn)貨
            順磁管(短)
            型號(hào):4mm/5mm順磁管
            起訂量:1
            規(guī)格:4mm/5mm
            單位:根
            包裝說(shuō)明:標(biāo)準(zhǔn)包裝
            材質(zhì):石英
            適用范圍:可用于固體和液體的EPR/ESR測(cè)定

            順磁管(短)

            詳細(xì)介紹


            產(chǎn)品介紹:

            型號(hào):4mm/5mm順磁管
            起訂量:1
            規(guī)格:4mm/5mm
            單位:

            包裝說(shuō)明:標(biāo)準(zhǔn)包裝

            材質(zhì):石英

            適用范圍:可用于固體和液體的EPR/ESR測(cè)定


            順磁管(長(zhǎng))

            產(chǎn)品介紹:

            規(guī)格:4mm/5mm *250mm

            材質(zhì):石英

            適用范圍:可用于固體和液體的EPR/ESR測(cè)定


            德國(guó)布魯克單晶硅樣品架

            產(chǎn)品特點(diǎn)

            上海富瞻自成立以來(lái),憑借與德國(guó)布魯克(BRUKER)、國(guó)際衍射數(shù)據(jù)中心(ICDD)、德國(guó)Freiberg等國(guó)際實(shí)驗(yàn)室分析儀器品牌的戰(zhàn)略合作,迅速成為大型儀器及耗材供應(yīng)商。

            詳細(xì)介紹


            產(chǎn)品介紹:



            XRD-SDCOM小晶體樣品臺(tái)式X射線單晶定向儀


            產(chǎn)品特點(diǎn)

            在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中,需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過(guò)程中,晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此,檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。

            詳細(xì)介紹


            產(chǎn)品介紹:

            技術(shù)特點(diǎn)

            l 能夠測(cè)量小至1mm的晶體到或更大的樣品

            l 各種樣品架及輸送夾具,用于線鋸、拋光等

            l 側(cè)晶方向標(biāo)記選項(xiàng)

            l 無(wú)水冷卻

            l **精度:0.01°(視晶體質(zhì)量而定)

            l 確定單晶的晶格取向

            l 使用Omega掃描方法的超高速晶體定位測(cè)量

            l 氣冷式X射線管,無(wú)需水冷

            l 適合于研究和生產(chǎn)質(zhì)量控制

            l 手動(dòng)操作(沒(méi)有自動(dòng)化選項(xiàng))


            可測(cè)量材料的例子

            ? 立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP

            ? 立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3

            ? 正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4

            ? 六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(藍(lán)寶石),GaPO4, La3Ga5SiO14

            ? 斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3

            ? 可根據(jù)客戶的要求進(jìn)一步選料


            平面方向的標(biāo)記和測(cè)量

            在晶圓片的注入和光刻過(guò)程中,需要平面或凹槽作為定位標(biāo)記。切割過(guò)程中,晶片必須正確地對(duì)準(zhǔn)晶圓片上易于切割的晶格面。因此,檢查平面或缺口的位置至關(guān)重要。


            為了確定平面或缺口的位置,就需要測(cè)量平面內(nèi)的部件。由于Omega掃描法可以在一次測(cè)量中確定完整的晶體方位,基于此,便可以直接識(shí)別在平面方向或檢查方向的單位或缺口。


            DDCOM通過(guò)旋轉(zhuǎn)轉(zhuǎn)盤(pán),可以將任何平面方向轉(zhuǎn)換成用戶的特定位置。在必須定義平面方向的情況下,這可以**簡(jiǎn)化將標(biāo)記應(yīng)用到特定平面方向的過(guò)程。



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