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武漢東隆科技有限公司
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光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
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訪問次數(shù)：1804更新時(shí)間：2024-11-14 14:29:15
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),能源,電子/電池,航空航天,電氣 |
|---|
產(chǎn)品介紹
光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI是一款低成本高精度光學(xué)鏈路診斷系統(tǒng)。其原理基于光學(xué)相干檢測(cè)技術(shù)，利用白光的低相干性可實(shí)現(xiàn)光纖鏈路或光學(xué)器件的微損傷檢測(cè)。通過(guò)讀取最終干涉曲線的峰值大小，精確測(cè)量整個(gè)掃描范圍內(nèi)的回波損耗，進(jìn)而判斷此測(cè)量范圍內(nèi)鏈路的性能。
該系統(tǒng)輕松查找并精準(zhǔn)定位器件內(nèi)部斷點(diǎn)、微損傷點(diǎn)以及鏈路連接點(diǎn)。其事件點(diǎn)定位精度高達(dá)幾十微米，可探測(cè)到-80dB光學(xué)弱信號(hào)，廣泛用于光纖或光器件損傷檢測(cè)以及產(chǎn)品批量出貨合格判定。
特點(diǎn)：
可定制掃描測(cè)量長(zhǎng)度
支持多通道測(cè)量升級(jí)
高采樣分辨率和定位精度
可定制引纖長(zhǎng)度，便于匹配實(shí)際測(cè)量環(huán)境
應(yīng)用：
光纖微裂紋檢測(cè)
產(chǎn)線自動(dòng)化檢測(cè)
FA光纖陣列鏈路性能檢測(cè)
硅光芯片、PLC波導(dǎo)瑕疵損耗檢測(cè)
光器件、光模塊內(nèi)部耦合點(diǎn)、連接點(diǎn)性能檢測(cè)
光纖微裂紋檢測(cè)儀OLI的參數(shù)：
主要參數(shù) | ||
基礎(chǔ)參數(shù) | ||
工作波長(zhǎng) | 1290~1330/1530~1570 | nm |
測(cè)量長(zhǎng)度1 | 12 45 90 | cm |
采樣分辨率 | 1 | μm |
定位精度 | 0.3 | mm |
測(cè)量時(shí)間2 | 1~15 | s |
回?fù)p測(cè)量范圍 | -10~-100 | dB |
回?fù)p重復(fù)精度 | ±3 | dB |
硬件 | ||
輸入電壓 | AC 220/110V；DC 12V | - |
主機(jī)功率 | 60 | w |
通訊接口 | USB | - |
引纖長(zhǎng)度3 | 5 | m |
光纖接口 | FC/APC | - |
尺寸 | W 345 * D 390 * H 165 | mm |
重量 | 7.5 | kg |
儲(chǔ)存溫度 | 0~50 | ℃ |
工作溫度 | 0~40 | ℃ |
儲(chǔ)存與工作濕度 | 10~70 | %RH |
備注：
1.測(cè)量長(zhǎng)度指設(shè)備最大測(cè)量長(zhǎng)度，在該最大測(cè)量長(zhǎng)度內(nèi)可任意選擇測(cè)量區(qū)間段；
2.測(cè)量時(shí)間與測(cè)試長(zhǎng)度相關(guān)，可任意選擇掃描長(zhǎng)度，測(cè)量時(shí)間1s@2cm、15s@90cm；
3.標(biāo)準(zhǔn)版引纖長(zhǎng)度為5m，可定制其他長(zhǎng)度。
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