目錄:上海西努光學(xué)科技有限公司>>工業(yè)顯微鏡>>鏡片反射率測(cè)定儀>> USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀
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更新時(shí)間：2025-05-22 11:11:04瀏覽次數(shù)：4276評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
|---|
USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀的特點(diǎn)：
1、消除背面反射光
采用特殊光學(xué)系，消除背面反射光。不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定表面的反射率。
2、可測(cè)定微小領(lǐng)域的反射率
用對(duì)物鏡對(duì)焦于小區(qū)域（φ60μm），可測(cè)定鏡片曲面以及鍍膜層斑點(diǎn)。
3、測(cè)定時(shí)間短
使用Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測(cè)定，可迅速實(shí)現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測(cè)定。
4、XY色度圖、L*a*b測(cè)定可能
以分光測(cè)定法為基準(zhǔn)，從分光反射率情況可測(cè)定物體顏色。
5、可測(cè)定的Hard Coat（高強(qiáng)度鍍膜）膜厚
用于涉光分光法，可以不接觸、不破壞地測(cè)定被測(cè)物的膜厚（單層膜）。
USPM-RUⅢ鏡片反射率測(cè)定儀主要用途：
1、各種透鏡（眼鏡透鏡、光讀取透鏡等）
2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測(cè)定（單層膜）
| 規(guī)格 | |
| 測(cè)定波長(zhǎng) | 380 nm～780 nm |
| 測(cè)定方法 | 與參照樣本的比較測(cè)定 |
| 被檢物N.A. | 0.12（使用10×物鏡時(shí)） 0.24（使用20×物鏡時(shí)） * 與物鏡的N.A.不同 |
| 被檢物W.D. | 10.1 mm（使用10×物鏡時(shí)） 3.1 mm（使用20×物鏡時(shí)） |
| 被檢物的曲率半徑 | -1R ～-∞、+1R～∞ |
| 被檢物的測(cè)定范圍 | 約ø60 μm（使用10×物鏡時(shí)） 約ø30 μm（使用20×物鏡時(shí)） |
| 測(cè)定再現(xiàn)性（2σ） | ±0.1%（380 nm～410 nm測(cè)定時(shí)） ±0.01%（410 nm～700 nm測(cè)定時(shí)） |
| 顯示分辨率 | 1 nm |
| 測(cè)定時(shí)間 | 數(shù)秒～十幾秒（因取樣時(shí)間而異） |
| 光源規(guī)格 | 鹵素?zé)簟?2 V 100 W |
| 載物臺(tái)Z方向驅(qū)動(dòng)范圍 | 85mm |
| PC接口 | USB方式 |
| 裝置重量 | 機(jī)身：約20 kg（PC、打印機(jī)除外） 光源用電源：約3 kg 控制器盒：約8 kg |
| 裝置尺寸 | 機(jī)身： 300（W）×550（D）×570（H） mm 光源用電源： 150（W）×250（D）×140（H） mm 控制器盒： 220（W）×250（D）×140（H） mm |
| 電源規(guī)格 | 光源用電源： 100 V（2.8 A）/220 V AC 控制器盒： 100V（0.2A）/220V AC |
| 使用環(huán)境 | 水平且無(wú)振動(dòng)的地方 溫度： 23±5 °C 濕度： 60%以下、無(wú)結(jié)露 |
本裝置不保證溯源體系中的精度。
可以特別訂做測(cè)定波長(zhǎng)440 nm～840 nm規(guī)格。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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