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            目錄:上海西努光學(xué)科技有限公司>>Park原子力顯微鏡>>大樣品AFM>> Park NX20原子力顯微鏡

            原子力顯微鏡
            • 原子力顯微鏡
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 其他品牌
            • 型號(hào) Park NX20
            • 廠商性質(zhì) 代理商
            • 所在地 上海市
            屬性

            產(chǎn)地類別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:電子/電池

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            更新時(shí)間:2025-05-22 15:57:30瀏覽次數(shù):1034評(píng)價(jià)

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            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
            作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量?jī)x器,其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚(yáng)。

            用于故障分析和大型樣品研究的納米計(jì)量工具
            作為一款缺陷形貌分析的精密測(cè)量?jī)x器,其主要目的是對(duì)樣品進(jìn)行缺陷檢測(cè)。而儀器所提供的數(shù)據(jù)不能允許任何錯(cuò)誤的存在。Park NX20,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性,在半導(dǎo)體和超平樣品行業(yè)中大受贊揚(yáng)。

            *大全面的分析功能
            Park NX20可快速幫助客戶找到產(chǎn)品失效的原因,并幫助客戶制定出更多具有創(chuàng)意的解決方案。優(yōu)秀的精密度為您帶來(lái)高分辨率數(shù)據(jù),讓您能夠更加專注于工作。與此同時(shí),真正非接觸掃描模式讓探針尖頭更鋒利、更耐用,無(wú)需為頻繁更換探針而耗費(fèi)大量的時(shí)間和金錢(qián)。。

            即便是第一次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作
            ParkNX20擁有業(yè)界最為便捷的設(shè)計(jì)和自動(dòng)界面,讓你在使用時(shí)無(wú)需花費(fèi)大量的時(shí)間和精力,也不用為此而時(shí)時(shí)不停的指導(dǎo)初學(xué)者。借助這一系列特點(diǎn),您可以更加專注于解決更為重大的問(wèn)題,并為客戶提供及時(shí)且富有洞察力的失效分析報(bào)告。

            樣品側(cè)壁三維結(jié)構(gòu)測(cè)量
            NX20的創(chuàng)新架構(gòu)讓您可以檢測(cè)樣品的側(cè)壁和表面,并測(cè)量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創(chuàng)新性研究和敏銳洞察力所具備的。

             

            對(duì)樣品和基片進(jìn)行表面光潔度測(cè)量
            表面光潔度測(cè)量是Park NX20的關(guān)鍵應(yīng)用之一,能夠帶來(lái)精確的失效分析和質(zhì)量保證。

             

             

            高分辨率電子掃描模式
            QuickStep SCM
            最快的掃描式電容顯微鏡
            PinPoint AFM
            無(wú)摩擦導(dǎo)電原子力顯微鏡

            多種技術(shù)幫助顧客減少測(cè)試時(shí)間

            · CrN樣品所做的針尖磨損實(shí)驗(yàn)

            通過(guò)對(duì)比重復(fù)掃描情況下探針尖頭的形狀變化,您可以輕易看到Park的真正非接觸模式的優(yōu)勢(shì)所在。

             

            · 最佳AFM測(cè)量

            借助真正非接觸模式,探針尖頭在掃描氮化鉻樣品(即探針檢測(cè)樣品)200次后仍可保持鋒利的狀態(tài)。氮化鉻的表面粗糙且研磨性強(qiáng),會(huì)讓普通的探針很快變鈍。

            低噪聲Z探測(cè)器測(cè)量準(zhǔn)確的樣品表面形貌
            沒(méi)有壓電蠕變誤差的真正樣品表面形貌
            超低噪聲Z探測(cè)器,噪音水平低于0.02 nm,從而達(dá)到非常精準(zhǔn)樣品形貌成像,沒(méi)有邊沿過(guò)沖無(wú)需校準(zhǔn)。Park NX20在為您提供好的數(shù)據(jù)的同時(shí)也為您節(jié)省了寶貴的時(shí)間。
            · 使用低噪聲Z探測(cè)器信號(hào)進(jìn)行臺(tái)階形貌測(cè)量
            · 在大范圍掃描過(guò)程中系統(tǒng)Z向噪音小于0.02 nm
            · 沒(méi)有前沿或后沿過(guò)沖現(xiàn)象
            · 終身無(wú)需校準(zhǔn),減少設(shè)備維護(hù)成本

            Park NX20技術(shù)參數(shù) 

            XY掃描器

            閉環(huán)控制XY平板掃描器
            掃描范圍 : 100μm x 100μm
                           50μm x 50μm
            20位位置控制和24位位置傳感器

             

            運(yùn)動(dòng)位移平臺(tái)

            XY行程范圍 : 150 mm (200 mm選配)
            Z行程范圍 : 25 mm
            對(duì)焦行程范圍: 8 mm
             

            Z掃描器

            導(dǎo)向強(qiáng)力Z掃描器
            掃描范圍 : 15 µm
                           30 µm
            20位位置控制和24位位置傳感器

             

            樣品基座

            樣品最大尺寸:150 mm (200 mm選配)
            真空樣品吸附

             

            視場(chǎng)

            光學(xué)物鏡

            10× (0.21 NA) 超長(zhǎng)工作距離鏡頭的物鏡
            20× (0.42 NA)高分辨率,長(zhǎng)工作距離鏡頭的物鏡
            同軸光源設(shè)計(jì)
            10倍光學(xué)物鏡和數(shù)碼放大
            光學(xué)物鏡視場(chǎng) : 840 × 630 µm (420 × 315 µm選配)
            CCD : 5M pixel

             

            軟件

            SmartScan™

            Dedicated system control and data acquisition software
            Adjusting feedback parameters in real time
            Script-level control through external programs(optional)

            XEI

            AFM data analysis software

             

            Electronics

            Signal processing

            ADC : 18 channels
            4 high-speed ADC channels
            24-bit ADCs for X, Y, and Z scanner position sensor
            DAC : 17通道
            2 high-speed DAC channels
            20-bit DAC的X, Y和Z掃描器定位
            最大數(shù)據(jù)量 : 4096 x 4096像素

            Integrated functions

            3 channels of flexible digital lock-in amplifier
            Digital Q control

            外部信號(hào)訪問(wèn)

            20 embedded signal input/output ports
            5個(gè)TTL

            輸出 : EOF, EOL, EOP, Modulation和AC bias

             

            AFM模式
            (*Optionally available)

            成像模式

            真正非接觸模式
            PinPoint™ AFM
            接觸模式
            側(cè)向摩擦力顯微術(shù) (LFM)
            相位成像
            輕敲模式

            電學(xué)特性*

            掃描電容顯微鏡 (SCM)
            導(dǎo)電原子力顯微鏡
            靜電力顯微鏡 (EFM)
            壓電力顯微鏡 (PFM)
            掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡(SKPM)

            一般特性*

            磁力顯微鏡(MFM)
            掃描熱感顯微鏡(SThM)
            力.距離曲線
            掃描隧道顯微鏡(STM)
            力調(diào)制顯微鏡(FMM)
            納米壓痕
            納米刻蝕
            納米操縱

             

             

             

             

             

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