X熒光光譜儀XRF利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門(mén)提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2、MgO、Al2、CaO、Fe2、K2、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量。再對(duì)照中國(guó)古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效。同時(shí)，為了更好的利用X熒光分析儀器的無(wú)損測(cè)量特性，我公司特意根據(jù)行業(yè)需要制作超大型抽真空樣品腔，以滿足不同大小、器形的陶瓷樣品的檢測(cè)。

 EDX3600L型儀器在測(cè)試陶瓷的同時(shí)亦可以測(cè)試青銅器(Cu、Sn、Pb、Zn等)、貴金屬（Au、Pt、Ag、Pb、Cu、Ni、Ru、Rh、Fe等）等的化學(xué)成份和金屬鍍層厚度，做到一機(jī)多用，是古文物檢測(cè)*的科學(xué)檢測(cè)儀器。中國(guó)歷史博物館、中國(guó)收藏家協(xié)會(huì)等古文物收藏部門(mén)都是其用戶。

?

熒光光譜儀參數(shù)規(guī)格                                            

1.元素分析范圍從鈉(Na)到鈾(U)；

2.元素測(cè)試范圍為 PPM級(jí)到99.99%；

3.測(cè)量時(shí)間：60-400秒； 

4.測(cè)試精度：0.05%（含量大于96%的樣品）；

5.多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1％（總熒光強(qiáng)度）；

6.長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1％；（總熒光強(qiáng)度）     

 產(chǎn)品配置

1. 超薄窗大面積的*SDD探測(cè)器
2. 內(nèi)置信噪比增強(qiáng)器可有效提高儀器信號(hào)處理能力25倍
3. 可自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 
4. 光路增強(qiáng)系統(tǒng) 
5. 內(nèi)置高清晰攝像頭
6. 加強(qiáng)的金屬元素感度分析器 
7. 智能全元素分析軟件，與儀器硬件相得益彰，且操作簡(jiǎn)單。
8. 面光源
9. 放大電路
10. 高低壓電源
11. X光管
12. 多變量非線性回歸程序
13. 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
14. 三重安全保護(hù)模式
15. 外觀尺寸： 800×710×1360 mm 
16. 樣品腔尺寸：600×600×1000mm

X熒光光譜儀XRF的應(yīng)用領(lǐng)域主要包括以下三個(gè)方面

古陶瓷；
古青銅器；
古首飾；