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            首頁(yè)>>束蘊(yùn)儀器(上海)有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體專用檢測(cè)儀器設(shè)備>>RESmap 低電阻率測(cè)試儀

            • 低電阻率測(cè)試儀(RESmap ) 參考價(jià):面議

              電阻率測(cè)試儀(RESmap )在對(duì)低電阻率晶錠和晶圓進(jìn)行非接觸式測(cè)量方式上擁有非常重要的重復(fù)性 Si | Ge | 化合物半導(dǎo)體 | 寬帶隙 | 材料 | 金屬...
              型號(hào): RESmap-1 廠商性質(zhì):代理商所在地:上海市 對(duì)比
              半導(dǎo)體電阻率測(cè)試儀RESmap化合物半導(dǎo)體材料
              2025/4/24 8:40:552108

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