三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 TSD系列

特點(diǎn):

采用圓弧造型及霧面線條處理，高質(zhì)感外觀，并采用平面無(wú)反作用把手，操作容易，可靠

全封閉結(jié)構(gòu)，采用強(qiáng)力循環(huán)馬達(dá)，低噪音冷凍裝置:

附有防震臺(tái)墊，使得機(jī)臺(tái)在運(yùn)轉(zhuǎn)過程中能保持安靜及穩(wěn)定;

具有被測(cè)試件通電測(cè)試功能(負(fù)載測(cè)試);

采用飛利浦照明窗口燈、內(nèi)詈耐高溫除霧裝置，便于觀察箱內(nèi)產(chǎn)品試驗(yàn)情況

具有多種保護(hù)裝置，性能可靠。

三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱 TSD系列

標(biāo)準(zhǔn):

GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫設(shè)備》的要求,

電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法GB2423.2-89(IEC68-2-2);

GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法:

GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)

GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》

GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》