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            廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司
            中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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            當(dāng)前位置:廣東皓天檢測(cè)儀器有限公司>>冷熱沖擊試驗(yàn)箱>>三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)箱>> TSD-50F-3P高低溫三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

            高低溫三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

            參   考   價(jià): 156900

            訂  貨  量: ≥1 臺(tái)

            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號(hào)TSD-50F-3P

            品       牌廣皓天

            廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

            所  在  地東莞市

            更新時(shí)間:2025-03-24 10:07:07瀏覽次數(shù):530次

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            產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 10萬(wàn)-20萬(wàn)
            應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè),石油,能源,電子/電池,電氣 內(nèi)箱尺寸 500*600*750
            外形尺寸 850*1600*2000 機(jī)身結(jié)構(gòu) 水電分離設(shè)計(jì)
            噪音 ≤68db 用途 材料耐高低溫測(cè)試
            內(nèi)箱材料 不銹鋼
            高低溫三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱
            是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)常用的測(cè)試設(shè)備,用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料,在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

            高低溫三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

            設(shè)備特點(diǎn)

            1.溫濕度控制范圍廣,可模擬各種環(huán)境條件下的溫度和濕度變化;

            2.采用超前的PID控制技術(shù),溫濕度控制精度高,穩(wěn)定性好;

            3.內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)不銹鋼材料,耐腐蝕,易清潔;

            4.設(shè)備配備安全保護(hù)裝置,保證操作人員和設(shè)備的安全;

            5.設(shè)備可進(jìn)行多段程序控溫,滿足不同產(chǎn)品的測(cè)試需求。

            高低溫三箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱

            結(jié)構(gòu)材料:

             1、冷凍系統(tǒng):二段式;

             2、測(cè)試架:不銹鋼架;

             3、源:AC 380V;50/60Hz;

             4、內(nèi)箱材質(zhì):SUS 304#不銹鋼;

             5、結(jié)構(gòu):高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū);

             6、外箱材質(zhì):烤漆/SUS 304#霧面拉絲不銹鋼板;

             7、保溫材質(zhì):高溫槽:硅酸鋁保溫棉;低溫槽:高密度PU發(fā)泡;

             8、保護(hù)裝置:無(wú)熔絲開(kāi)關(guān)、壓縮機(jī)高低壓保護(hù)開(kāi)關(guān)、冷媒高壓保護(hù)開(kāi)關(guān);

             9、冷卻方式:半密閉式雙段壓縮機(jī)(水冷式)全封閉式雙段壓縮機(jī)(風(fēng)冷式)

            執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

            GB10589-2006 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

            GB10592-2006-40℃高低溫實(shí)驗(yàn)箱技術(shù)條件

            GB11158-2006 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

            GB/T2423.1-2001 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

            GB/T2423.2-2001 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

            GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法

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