安規(guī)測試儀用于電壓元、器件的耐壓測量試驗（用交、直耐壓儀），如硅堆等。主要是用來檢測產(chǎn)品是否漏電、是否接地良好、會不會傷害人身安的用，主要檢測項目有電壓、泄漏電、緣電阻和接地電阻。
1、 何謂耐壓測試?
耐壓測試是常見的安規(guī)測試之，常見的dielectric withstand、high potential、hipot test都是耐壓測試。耐壓測試的主要目的測試DUT(Device under Test)的緣能力。故當(dāng)設(shè)備在運(yùn)作時，對測試點(diǎn)施以壓，測試是否有緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(luò)(Flashover/ARC)發(fā)生。
2 、在安規(guī)中緣有幾種類型?
緣類型分為四種:基本緣(Basic)、輔助緣(Supplementary)、雙重緣(Double)以及加強(qiáng)緣(Reinforced)。由於產(chǎn)品內(nèi)可能因灰塵過多、潮濕或是其他原因?qū)е卵孛娣烹?，因此也須以耐壓測試判斷產(chǎn)品內(nèi)電路是否有沿面距離或緣不足等問題。
3 、在AC耐壓測試時，為何需要real current 的判斷?
AC輸出總電(total current)可能因份內(nèi)容抗而成與真實(shí)測試電(real current)之間的差異。電在輸出時，若受到較大容抗時，反應(yīng)電(reactive)會較大，而使得真實(shí)測試電相對變小。若無法準(zhǔn)確測量輸出電與加以補(bǔ)償，會成測試上的盲點(diǎn)。
4 、在DC耐壓測試時，為何需要緩升時間?
DC耐壓測試通常會需要加上緩升時間以及放電時間，因為大多的DUT具有電容性而會導(dǎo)致充電電產(chǎn)生。為了使充電變位電(charge current)穩(wěn)定，需要緩升時間來緩沖，才不會因充電電而導(dǎo)致漏電過，而判斷為不良品(FAIL)。
5 、在做耐壓測試時，為何需要緩降時間?
耐壓測試會使DUT充電，因此在耐壓測試結(jié)束時須段時間來行放電，優(yōu)良的耐壓測試設(shè)備會將放電時間減至較少，并且在未達(dá)放電標(biāo)準(zhǔn)前會明顯標(biāo)示危險警告，以防止測試人員不當(dāng)接觸而受到電氣傷害。
