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            技術(shù)文章

            19055-C耐壓測試分析儀技術(shù)參數(shù)

            閱讀:1148          發(fā)布時(shí)間:2020-8-7

            19055耐壓測試分析

            19055-C耐壓測試分析

            主要特色:

            • 500VA 輸出
            • Floating 輸出設(shè)計(jì),符合EN50191要求
            • Corona 電暈放電偵測(19055-C)
            • Flashover 電氣閃絡(luò)偵測
            • BDV崩潰電壓分析
            • 專利 HFCC高頻接觸偵測
            • 專利 OSC開短路偵測
            • GFI人體保護(hù)電路
            • 標(biāo)準(zhǔn)RS232&HANDLER介面
            • 可選購GPIB介面
            • 不良時(shí)面板鎖定功能
            • 可程式電壓輸出及測試限制值
            • 支援 A190301 高壓掃描治具

            功能

            • 耐壓測試 
              - 交流 5kV/100mA 
              - 直流 6kV/25mA
            • 絕緣電阻測試 
              - 5kVmax 
              - 1MΩ~50GΩ

            Chroma 19055 耐壓分析儀為針對耐壓測試與分析所設(shè)計(jì)的設(shè)備。其具備500VA大功率,大輸出交流5kV/100mA,符合大功率耐壓測試需求,以及符合EN50191的設(shè)備要求(詳細(xì)資訊請參考應(yīng)用文件)。

            19055-C系列除了基本的交流耐壓、直流耐壓、絕緣電阻測試外,加入新研發(fā)的電暈放電偵測功能 (Corona Discharge Detection, CDD),可經(jīng)由崩潰電壓分析 (Breakdown Voltage Analysis)分別檢出 :
            - 電暈放電啟始電壓(Corona discharge Start Voltage, CSV)
            - 電氣閃絡(luò)啟始電壓(Flashover Start Voltage, FSV)
            - 絕緣崩潰電壓(Breakdown Voltage, BDV)

            對於測試時(shí)的接觸檢查議題,除原有專利設(shè)計(jì)OSC開短路偵測 (Open Short Check)外,新增高頻接觸檢查 (High Frequency Contact Check, HFCC) ,高壓輸出前進(jìn)行接觸檢查,提升測試可靠度與效率。

            為體貼使用者,Chroma 19055置入大型LCD顯示屏幕,方便操作與判斷。加入GFI 人體保護(hù)電路以及Floating安全輸出設(shè)計(jì),保護(hù)操作人員的安全,讓您在操作時(shí)無後顧之憂。

            量測技術(shù)

            耐壓測試絕緣崩潰(BREAKDOWN) /電氣閃絡(luò)(FLASHOVER) /電暈放電偵測技術(shù)(CORONA)
            何謂耐壓不良? 大部份的電氣安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)敘述為"During the test, no flashover or breakdown shall occur",意指在耐壓測試中,不得有電氣閃絡(luò)或絕緣崩潰發(fā)生。但現(xiàn)今絕緣失效(Failure)及放電(discharge)已成為各類絕緣材料或耐壓零組件重視的議題。由於放電與絕緣能力之間具有極高的相關(guān)性,所以放電偵測不僅是安全議題,更是控制產(chǎn)品品質(zhì)的主要關(guān)鍵。若依材料放電的性質(zhì)來分類,放電可分為三種 : 電暈放電(Corona discharge)、火花放電(Glow discharge)、電弧放電(Arc discharge) 。

            電暈放電(Corona Discharge): 當(dāng)二電極間承受較高電壓時(shí),電場強(qiáng)度相對較大,當(dāng)此作用大於氣體之電離位能(Ionization Potential) ,於材料表面氣體發(fā)生暫態(tài)離子化的現(xiàn)象,此時(shí)會(huì)有可見光出現(xiàn)以及溫升現(xiàn)象。長期的電暈放電與溫升可能會(huì)造成材料的質(zhì)變(Qualitative Change),進(jìn)而導(dǎo)致絕緣劣化 (Insulation Deterioration) ,使得絕緣耐受程度下降,終發(fā)生絕緣失效。圖1為電暈放電示意圖。由於電暈放電會(huì)產(chǎn)生高頻的暫態(tài)放電,是可以用高頻電量量測的方式偵測。

             

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