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詳細(xì)介紹
PXUT-F4 數(shù)字超聲波探傷儀
主要特點(diǎn)：
京海興樂科技（北京）有限公司提供儀器維修，產(chǎn)品帶檢，技術(shù)培訓(xùn)，產(chǎn)品配件選型，儀器說明書。與之配套選件：直 探頭、斜探頭、測厚探頭、角度探頭、保護(hù)膜探頭、連接線、耦合劑、探傷試塊、電池、充電器、電源線
● 3通道設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)TOFD+PE同時(shí)掃查，輕松解決工件上盲區(qū)問題；
● 掃查圖譜支持現(xiàn)場在線或計(jì)算機(jī)離線分析，兩種圖譜可同步回放，便捷實(shí)用；
● 20個(gè)獨(dú)立探傷通道（可擴(kuò)展），多種探傷工藝和標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成，可自由設(shè)置各行業(yè)探傷工藝標(biāo)準(zhǔn)，現(xiàn)場探傷無需攜帶試塊；
● 可利用端點(diǎn)衍射波實(shí)現(xiàn)缺陷裂紋的自動(dòng)測高；
保護(hù)膜探頭：B1S B1S-EN B1S-O B2S B2S-EN B2S-O B2S-O-EN B4S B4S-EN B4S-O B4S-O-EN B5S MB2S MB2S-EN MB2S-O MB4S MB4S-EN MB4S-O MB5S MB5S-O SEB2S SEB4S MSEB2S MSEB4S；雙晶探頭：SEB1 SEB1-EN SEB2 SEB2-EN SEB2-0° SEB2-EN-0°SEB4 SEB4-EN SEB4-0° SEB4-EN-0°MSEB2 MSEB2-EN MSEB4 MSEB4-EN MSEB4-0°MSEB5 SEB2KF5 SEB4KF8 SEB4KF8-EN SEB5KF3 SEB10KF3 SEB10KF3-EN
● 按鍵背光設(shè)計(jì)，滿足不同檢測環(huán)境需求；
● 缺陷回波參數(shù)（距離、垂直、水平、波幅、dB或當(dāng)量孔徑值）實(shí)時(shí)顯示；多次波探測缺陷的實(shí)際深度可直接顯示；
● DAC、AVG曲線自動(dòng)生成，取樣點(diǎn)不受限制，并可進(jìn)行補(bǔ)償與修正。DAC曲線隨增益自動(dòng)浮動(dòng)、隨聲程自動(dòng)擴(kuò)展、隨延時(shí) 自動(dòng)移動(dòng)；可實(shí)現(xiàn)回波的距離波幅補(bǔ)償。能顯示任意孔徑的AVG線。制作完DAC曲線儀器可自動(dòng)讀取波幅dB值；
● 具有GB/T11345-2013智能評定功能。
● 具有B掃描功能，直觀顯示工件缺陷形狀，實(shí)現(xiàn)檢測可追溯管理，配合完備的焊縫跟工件剖面顯示，使探測結(jié)果更直觀；
● 濾波頻帶可調(diào)，并具有射頻顯示，適用于各種工件的精確探傷；
● 數(shù)據(jù)處理能力強(qiáng)，可按日期、存儲(chǔ)編號(hào)和序號(hào)進(jìn)行檢索和處理，高可靠數(shù)據(jù)保護(hù)，高速數(shù)據(jù)接口，快速實(shí)現(xiàn)報(bào)告打印；
● 具有智能拼音輸入法，可方便快捷地輸入漢字，；
● 實(shí)現(xiàn)SD卡存儲(chǔ)，實(shí)時(shí)連續(xù)記錄動(dòng)態(tài)波形，采用國際標(biāo)準(zhǔn)USB接口，具有VGA接口可外接投影儀、顯示器，方便培訓(xùn)和教學(xué)。
技術(shù)參數(shù)：
● 通道數(shù)：3
● 頻帶范圍：0.4～30MHz
● 采樣頻率：400MHz
● 增益范圍：120dB，0.1，1.0，2.0，6.0步進(jìn)
● 探測范圍：0～10000 mm（鋼中縱波）
● 動(dòng)態(tài)范圍：≥40dB
● 垂直線性：≤2%
● 水平線性：≤0.1%
● 分 辨 力：≥32dB
● 靈敏度余量：≥65dB（200mm—Ф2平底孔，2.5PФ20）
● 觸發(fā)方式：編碼器觸發(fā)、時(shí)間觸發(fā)
● 衰減精度：<±1dB/20dB
● 探頭方式：單晶、雙晶、穿透
● 顯 示：5.7"TFT LCD，640×480
● 電 源：16V DC；220V AC高性能鋰電池
● 工作環(huán)境溫度：（-20 ～ 50）℃
● 工作時(shí)間：≥8小時(shí)(鋰電池供電)
● 外形尺寸（長*寬*厚）：156mmX246mmX45mm
● 整機(jī)重量：1.17Kg(含鋰電池)
如相關(guān)產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)發(fā)生更改，恕不另行通知。
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