您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)! 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:蘇州福佰特儀器科技有限公司>>技術(shù)文章>>X射線熒光光譜儀教程
化學(xué)成分分析的方法主要有化學(xué)分析,物理分析。其中物理分析越來越受到研究者的關(guān)注,其具有幾個(gè)特點(diǎn):
1.不破壞樣品成分,
2.絕大部分的物理分析的區(qū)域很小
3.儀表面分析方法為主
4.分析速度快,靈敏度高。常見的物理分析方法包括X射線熒光光譜(XRF)等離子發(fā)射光譜(ICP)原子吸收光譜(AAS)原子熒光光譜法(AFS)和電子探針分析(EPMA)
XRF分析測試技術(shù)已經(jīng)在地質(zhì),冶金,電子機(jī)械,石油,航空航天材料,生物,生態(tài)環(huán)境等領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。