電子接插件缺陷X-RAY無損檢測設(shè)備介紹：

電子接插件缺陷X-RAY無損檢測設(shè)備X射線原理:X光射線 (以下簡稱X-Ray) 是利用一陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊，在撞擊過程中，因電子突然減速，其損失的動能會以X-Ray形式放出，其具有非常短的波長但高電磁輻射線。而對于樣品無法以外觀方式檢測之位置，利用紀(jì)錄X-Ray穿透不同密度物質(zhì)后其光強(qiáng)度的變化，產(chǎn)生之對比效果可形成影像即可顯示出待測物之內(nèi)部結(jié)構(gòu)，進(jìn)而可在不破壞待測物的情況下觀察待測物內(nèi)部有問題之區(qū)域。

對于某些狹窄的結(jié)構(gòu)，無法在無法放置放射線照相機(jī)的部分中實(shí)現(xiàn)成像檢測。通過X射線檢查技術(shù)可以發(fā)現(xiàn)的常見開關(guān)設(shè)備異常有：

1. 內(nèi)部異物螺栓松動，打開和關(guān)閉時(shí)磨損或在安裝過程中引入異物引起的異物會給高電壓的安全操作帶來隱患。

2. 生產(chǎn)和安裝中是否缺少任何零件？對于高壓斷路器或GIS，內(nèi)部零件很多，如果在生產(chǎn)和組裝過程中遺漏零件或未安裝零件，也會給現(xiàn)場設(shè)備的運(yùn)行帶來隱患。

3.生產(chǎn)裝配異常，在生產(chǎn)和組裝過程中，斷路器和隔離開關(guān)的觸點(diǎn)是否對準(zhǔn)良好，對操作可靠性有很大影響。如果對準(zhǔn)不良，則在打開和關(guān)閉過程中，觸點(diǎn)或拉桿很可能會彎曲或折斷，從而導(dǎo)致設(shè)備放電和燃燒。

除上述常見問題外，X射線檢測在電力領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景，但如果結(jié)合檢測和故障判斷經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合AI算法，相信將在X射線檢測中發(fā)揮更大的價(jià)值。

產(chǎn)品應(yīng)用：
● pcba焊點(diǎn)檢測（BGA 、CSP 、POP等元器件檢測）
● 電池（極片焊點(diǎn)缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測）
● 電子接插件（線束、線纜、插頭等）
● 汽車電子（接插線、儀表盤等檢測）
● 太陽能、光伏（硅片焊點(diǎn)檢測）
● 半導(dǎo)體（封裝元器件檢測）
● LED檢測
● 電子模組檢測
● 陶瓷制品檢測

標(biāo)準(zhǔn)配置：
● 4/2（選配6寸）像增強(qiáng)器和百萬像素?cái)?shù)字相機(jī)；
● 90KV5微米的X射線源；
● 簡單的鼠標(biāo)點(diǎn)擊操作編寫檢測程序；
● 檢測重復(fù)精度高；
● 正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜，允許*視角檢測樣；
● 高性能的載物臺控制；
● 超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識別不良品；
● 自動BGA檢測程序準(zhǔn)確檢測每一個(gè)BGA的氣泡，根據(jù)客戶需求進(jìn)行判定并輸出Excel報(bào)表。

安全的檢測設(shè)備：
日聯(lián)作為一個(gè)有著高度社會責(zé)任感的X-Ray設(shè)備生產(chǎn)商，首要考慮的就是設(shè)備的安全性能。日聯(lián)生產(chǎn)的各系列的X-Ray產(chǎn)品都使用較厚的鉛板、鉛玻璃以及含鉛橡膠，使得產(chǎn)品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量，也*符合FDA認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。