膜厚儀 X熒光膜厚測試儀是集多年X熒光測厚儀經(jīng)驗，專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚儀。對工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層厚度進行精準檢測?？蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電氣、航空航天、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。

鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法： 1、光學(xué)顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005 2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005 3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

膜厚儀 X熒光膜厚測試儀測量標準

1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法 2.美國標準A754/A754M-08 Coating Weight（mass）of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

應(yīng)用行業(yè)

1、 電子半導(dǎo)體行業(yè)接插件和觸點的厚度測量 2、 印刷線路板行業(yè)功能鍍層厚度測量 3、 貴金屬首飾手表行業(yè)鍍層厚度測量 4、 五金電鍍行業(yè)各種防腐性、裝飾性及功能鍍層厚度測量

五金鍍層測厚儀參數(shù)規(guī)格

1．分析元素范圍：硫（S）～鈾（U）；
2.同時檢測元素：多24個元素，多達5層鍍層；
3.分析含量：一般為2ppm到99.9%；
4.鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）；
5.SDD探測器：分辨率低至135eV；
6.的微孔準直技術(shù)：小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm；
7.樣品觀察：配備全景和部兩個工業(yè)高清攝像頭；
8.準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準直器組合；
9.儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度：小于0.1um；

測試實例

在計數(shù)率的情況下能分辨相近元素，大大提高測試穩(wěn)定性、降低檢測限。

11次測量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對比如下：

測試結(jié)論：實驗表明，使用電鍍膜厚測試儀對鍍件膜厚測試，結(jié)果度高，速度快（幾十秒），其測試精度優(yōu)于國外儀器。

X射線和β射線法是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。

β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導(dǎo)電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微機技術(shù)后，采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。

應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車制造
貴金屬鍍飾......

五金電鍍層膜厚儀設(shè)計亮點
全新的下照式設(shè)計，一鍵式的按鈕，讓您的鼠標鍵盤不再成為必須，極大減少您擺放樣品的時間。
全新的光路系統(tǒng)，大大減少了光斑的擴散，實現(xiàn)了對更小產(chǎn)品的測試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭，配合高性能距離補正算法，實現(xiàn)了對不規(guī)則樣品（如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等）的異型測試面的精準測試。

硬件配置
采用高分辨率的SDD探測器，分辨率高達140EV進口的大功率高壓，讓Ag,Sn等鍍層的測量能更加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管，猶如給發(fā)動機增加了渦輪增壓，讓數(shù)據(jù)的準確性更上層樓。
多種準直器可搭配選擇：0.1*0.2mm；Φ0.15mm;Φ0.2mm；Φ0.3mm。貼心打造出適合您的那一款。

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實時監(jiān)控，讓您的使用更加放心

鍍層測厚儀主要功能

　　1、測量：單探頭全量程測厚，儀器自動補償偏差值。

　　2、數(shù)據(jù)管理： 通過分組的方式來管理存儲的數(shù)據(jù)。一共分6組，每組包含99個數(shù)據(jù)。 可以對任意一組數(shù)據(jù)進行查看、刪除、打印以及通信操作。

　　3、測量模式：包括常規(guī)測量模式和監(jiān)控測量模式兩類測量模式?？梢栽诓煌墓ぷ鳜F(xiàn)場下給用戶提供不同的使用方式，以解決現(xiàn)場的需求。

　　a、常規(guī)測量

　　測量時儀器只顯示測量數(shù)據(jù)的基本信息，能夠滿足用戶最基本的測量需要。

　　b、最小值捕捉

　　測量數(shù)據(jù)時，儀器會自動捕捉到最小的測量值。如果工廠驗收以樣品的最小厚度值為檢驗標準的話，那么這種測量模式無疑是選擇。

　　c、統(tǒng)計測量

　　在這種模式下，儀器的功能欄里會同時顯示出測量數(shù)據(jù)的值、最小值、平均值、測量次數(shù)。給用戶提供更加直觀和方便的數(shù)據(jù)分析，進而對現(xiàn)場工件的優(yōu)劣情況進行實時的觀測。

主要分為磁性金屬鍍層測厚儀、電渦流金屬鍍層測厚儀，X射線金屬鍍層測厚儀三類測量方法。

金屬鍍層測厚儀是一種對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層進行厚度測量的儀器，測量的對象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等（在有關(guān)國家和國際標準中稱為覆層（coating））。 覆層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要一環(huán)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對覆層厚度有了明確的要求。