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詳細(xì)介紹
SunScan植物冠層分析儀（標(biāo)準(zhǔn)版）通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān) 于影響田間作物生長(zhǎng)的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖
原理：
根據(jù)冠層吸收的Beer法則、Wood的SunScan冠層分析方程以及Campbell的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測(cè)量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)
軟件計(jì)算
SunScan植物冠層分析儀（標(biāo)準(zhǔn)版）主要是通過測(cè)量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來計(jì)算葉面積指數(shù)（LAI），軟件中涉及到的參數(shù)有：
直射和散射入射輻射光、葉面積指數(shù)、葉片透光率、葉傾角、天頂角、穿透輻射。在這幾個(gè)參數(shù)中，天頂角是根據(jù)當(dāng)?shù)氐臅r(shí)間、經(jīng)度和緯度來計(jì)算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計(jì)的，其他的參數(shù)都是直接測(cè)量得出的
基本技術(shù)指標(biāo)：
SS1探測(cè)器 | ||
探測(cè)器工作區(qū)域 | 1000×13mm寬，傳感器間距15.6mm | |
探測(cè)器光譜響應(yīng) | 400 ~ 700nm (PAR) | |
探測(cè)器測(cè)量時(shí)間 | 120ms | |
探測(cè)器分辨率 | 0.3μmol. m-2.s-1 | |
探測(cè)器大讀數(shù) | 2500μmol.m-2.s-1 | |
精度 | ±10% | |
模擬輸出 | 1 mV per μmol. m-2.s-1 | |
尺寸和重量 | 1300×100×130mm,1.7kg | |
供電 | 4節(jié)五號(hào)電池，約使用1年 | |
RPDA2手持終端 | ||
屏幕 | 1/4VGA屏幕，太陽光下依然顯示清晰 | |
操作系統(tǒng) | Windows Mobile6 | |
顯示項(xiàng)目 | LAI、PAR平均值、每個(gè)傳感器的讀數(shù) | |
手持終端工作環(huán)境 | IP67防護(hù)等級(jí)，-30-60℃ | |
電源 | 可充電電池，約使用12小時(shí) | |
手持終端存儲(chǔ) | 支持>100M | |
尺寸和重量 | 165×95×45mm，450g | |
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