商品名稱：低阻抗率計(jì) MCP-T370型 （手提式）
Loresta-AX
特色：維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)世界之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì)
操作簡(jiǎn)單，現(xiàn)場(chǎng)使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理
測(cè)定范圍：10-2～106Ω
資料輸出：USB Memory
體積：約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g
標(biāo)準(zhǔn)配備

ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》
利用

商品名稱：	低阻抗率計(jì) MCP-T370型 (手提式) Loresta-AX
特色：	維持安定之高質(zhì)量，依據(jù)世界之四探針理論之高精度之阻抗率計(jì) 操作簡(jiǎn)單，現(xiàn)場(chǎng)使用攜帶型方便，用于生產(chǎn)技術(shù)、質(zhì)量管理
測(cè)定范圍：	10-2～106Ω
資料輸出：	USB Memory
體積：	約 228 W× 85 D× 65 Hmm, 420g

標(biāo)準(zhǔn)配備
	ASP探頭 MCP-TPO3P《四探針探頭》 利用價(jià)值廣泛標(biāo)準(zhǔn)探頭JIS K7194對(duì)應(yīng)， Pin間 5mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm
	MCP-TA06 充電器

選購品
	ESP探頭 MCP-TPO8P《四探針探頭》 不均一樣品用 Pin間 5mm，Pin尖 ? 2×4支，壓力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm
	PSP探頭 MCP-TPO6P《四探針探頭》 小樣品或薄膜用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支， 尺寸 ? 10-20× L112mm
	QPP探頭 MCP-TPQPP《四探針探頭》 微小樣品用 Pin間 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，壓力 70g/支， 尺寸 ? 10-20× L112mm
	NSCP探頭 MCP-NSCP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，壓力 250g/支
	BSP探頭 MCP-TPO5P《四探針探頭, 特殊用探頭》 大樣品用 Pin間 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，壓力 210g/支
	TFP探頭 MCP-TFP《四探針探頭, 特殊用探頭》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin間 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，壓力 50g/支
	AP探頭 MCP-TPAP《二探針探頭》 標(biāo)準(zhǔn)樣式 Pin間 10mm，Pin尖 ? 2×2支，壓力 240g/支
	BP探頭 MCP-TPBP《二探針探頭》 大樣品用 Pin尖 ? 2×2支，壓力 240g/支
	MCP-TRF1探頭檢驗(yàn)片 ASP, ESP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之)
	MCP-TRPS 探頭檢驗(yàn)片 PSP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之)
	MCP-TRTF 探頭檢驗(yàn)片 TFP, NSCP探頭用 (探頭檢驗(yàn)片于測(cè)定前檢查之)