surge浪涌測試儀介紹：

Teseq公司的NSG 3040是抗擾度測試中的模擬電磁干擾影響的多功能發(fā)生器，它操作簡便、具有多種功能，滿足企業(yè)、國內(nèi)和標準(包括的IEC/EN標準)和CE標志測試的傳導EMC測試要求。NSG 3040采用了特測公司設(shè)計理念包含了電子快速瞬變(EFT)和電能質(zhì)量測試 (PQT)。豐富的擴展功能使該系統(tǒng)提供更廣泛的應(yīng)用配置范圍。

創(chuàng)新的模塊化設(shè)計-NSG 3040是多用途系統(tǒng)，可以按照基本測試要求配置和擴展以滿足復雜的測試實驗室的需求。成熟的“主—從"概念技術(shù)使得單個脈沖模塊能夠獨立校準，并將校準資料和修正系數(shù)存儲于從控制器上。新模塊安裝簡便，無需返回整NSG3040個系統(tǒng)進行校準。

由于采用技術(shù)組件，NSG 3040在開關(guān)切換技術(shù)和相位精度方面建立了新的標準，并且超越了現(xiàn)行標準的要求。高畫質(zhì)及對比度的7“大彩色觸摸顯示屏使得NSG 3040的操作非常簡便。根據(jù)要求，既可以通過一體化鍵盤也可以用帶有靈敏度調(diào)整鍵的滾輪來進行輸入。此外，在開發(fā)環(huán)境下，通過內(nèi)置的TA(測試程序調(diào)用)功能，幾個“點擊"就能激活標準測試，迅速、可靠地得到結(jié)論性結(jié)果。

便捷的觸摸按鈕使輸入的每個參數(shù)的值非常明顯，并允許用戶快速選擇和修改所有的設(shè)置。該操作不需要觸控筆，測試參數(shù)可以迅速、簡便地編輯出來?？梢院啽愕剡M行多步驟測試程序的增加、程序次序及參數(shù)值的修改。在“專家模式"下，用戶可以在測試中使用滾輪進行手動參數(shù)修改，從而有效、迅速地簡化激活關(guān)鍵閾值。

通過SD讀卡器可迅速進行固件下載?？梢酝暾谋４嬗捎脩舻臏y試。在存儲空間不夠的特殊情況下，可用市場購買的SD記憶卡更換該記憶卡，而存放其中的測試文件可被輕松復制進更大內(nèi)存的SD卡中。

具有以太網(wǎng)端口，可接受來自個人電腦的外部控制。Windows軟件簡化了測試程序并允許為各種類型的測試編寫復雜的測試序列。在測試進程中，操作人員可以進行觀察并在測試操作中生成測試報告，以此增加測試的效率。

surge浪涌測試儀參數(shù)：

浪涌組合波脈沖1.2/50~8/20µs(組合浪涌脈沖) — CWM 3450

脈沖符合IEC/EN 61000-4-5, GB/T 17626.5標準

NSG3040用于CE應(yīng)用的靈巧型4KV解決方案

脈沖電壓（開路）：±200V–4.4kV（以1V為步長）

脈沖電流（短路）：±100A–2.2kA

阻抗：2/12Ω

極性：正/負/交替

脈沖重復周期：10s–600s（以1s為步長）

測試時間：1至9999個脈沖，不間斷

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

耦合：外部/內(nèi)部

快速瞬變脈沖群測試 (EFT) 5/50ns—FTM 3425

脈沖符合IEC/EN 61000-4-4, GB/T 17626.4標準

脈沖幅度：

±200V–4.8kV（以1V為步長）—開路

±100V–2.4kV（50Ω匹配系統(tǒng)）

脈沖群頻率：100Hz–1000kHz

極性：正/負/交替

重復時間：1ms–4200s (70min)

脈沖群時間：1us–1999s，單脈沖，不間斷

測試時間：1s–1000h

相位同步：異步、同步0-359°(以1°為步長)

耦合：外部/內(nèi)部

電壓暫降和電壓跌落 — PQM 3403

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標準

電壓暫降&電壓跌落：從EUT輸入電壓跌至0V、0%

選配可選自耦變壓器的Uvar：取決于型號（VAR 3005）

選配步進式變壓器的Uvar：0、40、70、80% (INA650x)

峰值沖擊電流能力：500A (230V時)

開關(guān)時間：1–5µS（100?負載）

周期時間：20us至1999s、循環(huán)1至99’999次

測試時間：1s–70’000min，1至99’999個周期，不間斷

重復時間：40µs–35min、循環(huán)1至99999次

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

電壓變化測試(僅與VAR 3005系列調(diào)壓器配合使用)

符合IEC/EN 61000-4-11, GB/T 17626.11標準

帶有可選自耦變壓器的0–265V（以1V為步長）、0–115%（以1%為步長）

重復時間：1ms–35min，循環(huán)1–99999次

測試持續(xù)時間：1ms–5s，循環(huán)1至250周期（50Hz）

重復時間：10ms–10s；1–250周期（50Hz），1–300周期（60Hz）

測試持續(xù)時間：1s–99999min、1–99999個事件、不間斷

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

與INA753和INA701或702共同產(chǎn)生的脈沖磁場

符合IEC/EN 61000-4-9, GB/T 17626.9標準

場強：1–1200A/m (以1A/m為步長)

極性：正/負/交替

重復時間：5s–10min (以1s為步長)

阻抗：2Ω

線圈因數(shù)：0.0 –50.00

測試時間：1– 9’999個脈沖，不間斷

相位同步：異步、同步0–359°（以1°為步長）

EUT供電：單相

EUT VAC：24至260Vrms，50/60Hz (相線—中線)，大400Hz

EUT VDC：0至260VDC

EUT電流：

1x16Arms，不間斷（溫度監(jiān)控）

1x25Arms，1分鐘

EFT（脈沖群） 將所有的線與參考地進行標準耦合（GND）