CX3300系列 器件電流波形分析儀

可幫助所有電子工程師精確測量此前未曾觀察到的寬帶低電平電流波形。

對于瞬態(tài)電流測量的更大需求致力于優(yōu)良半導體或 ReRAM 和 PRAM 等非易失性存儲器件的研究人員一直在努力觀察新開發(fā)的材料在施加窄電壓脈沖（< 100 ns）后有何表現(xiàn)。由于瞬態(tài)電流的范圍遍及亞納安至毫安以上，因此很難清晰探測整個瞬態(tài)電流行為。對于降低功率和電流的更大需求從事電池供電設備開發(fā)的工程師正面臨著降低功率和電流消耗的巨大壓力。最近的IoT、M2M、可穿戴設備、通信芯片、物聯(lián)網芯片又極大加劇了這種壓力，因此對現(xiàn)有設備降低更多未使用的功率是必需的。因此，工程師必須要測量低至器件級的動態(tài)電流消耗，這個數(shù)據通常難以測量，尤其是測量物聯(lián)網中使用的低功率設備。為何寬帶低電平電流波形測量變得如此困難？1. 有限的動態(tài)范圍例如，大多數(shù)電池供電設備都擁有低功率狀態(tài)，例如“睡眠狀態(tài)"或“待機狀態(tài)"，它們只消耗極低的電源，如不到 1 μA，而“活躍狀態(tài)"通常需要 10 mA 以上的電流。使用一種儀器很難測量這樣一個寬電流動態(tài)范圍。2. 較大測量噪聲鉗形電流探頭使用廣泛，但由于其具有較大的本底噪聲，它很難測量低于 1 mA 的低電平電流。使用分流電阻和示波器非常有用，但是由于本底噪聲和電阻器上的壓降，最小可測量電流非常有限。3. 有限帶寬采用一定的分辨率進行低電平電流波形測量可能需要在帶寬方面進行折中，否則寬帶測量可能會降低分辨率。使用萬用表或安培計進行高分辨率測量很常見，但由于其具有較低的帶寬，并不適用于寬帶電流測量。另外，當您使用由標準件而非專業(yè)零件制成的定制測量儀器時，很難用相同的寬帶寬來測量多個量程。4. 需要多種儀器萬用表通常用于測量平均“睡眠狀態(tài)"電流，而“活躍狀態(tài)"電流可使用示波器來捕獲?？偣β屎碗娏飨谋仨殢倪@些結果進行手動評測，而數(shù)據并不總是可靠的，并且其驗證可能極其耗時。如圖 2 所示，工程師和研究人員需要一個僅需一種儀器便可同時滿足多種關鍵測量要求的寬帶低電平電流波形測量解決方案