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詳細介紹
液體(固體)體積電阻率測試儀 表面電阻率測試 型號：SB36
SB36液體(固體)體積電阻率測試儀SB36液體體積電阻率及表面電阻率測試儀是根據(jù)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》(等同IEC 60093)和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實驗方法》(等同IEC 60167)而設計和制造的。
該款產品是根據(jù)GB/T 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（等同IEC 60093）和GB/T 10064-2006《測量固體絕緣材料絕緣電阻的實驗方法》（等同IEC 60167）而設計和制造的。集高阻和微電流功能為一體的測量儀器。主要用于各種絕緣材料的體積電阻率、表面電阻率和絕緣電阻及微電流的測量.
主要用于各種絕緣材料的體積電阻率、表面電阻率和絕緣電阻及微電流的測量。
技術參數(shù)
· 型 號 SB36固體（液體）體積電阻率及表面電阻率測試儀
· 額定電壓 10 100 250 500 1000 準確度 ±5 %
· 電阻測量 1* 106～1* 1017準確度 ±10 % ±20 %
· 微電流測量 1* 105～1* 1014準確度 ±10 % ±20 %
· 外形尺寸/重量（MM /KG） 380W * 260D * 150H / 10 主要用途及特點:
· 適用于科研、工廠、學校、企業(yè)部門對絕緣材料、電工產品、電子設備以及元件的絕緣測量和高阻值兆歐電阻的測量也可用著微電流測量，是一種直讀式和微電流兩用儀器。
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液體電極（GB1672標準）圖
液體體積電阻系數(shù)計算公式如下：
· （1）
體積電阻系數(shù)（Ω·m）
Rv：體積電阻（Ω）
S：測量電極有效面積（m2）
測量電極有效直徑（米）
測量電極與環(huán)電極雙邊間距（米）
測量電極與高壓電機底面間隙（即被測液體厚度）
二、使用說明
（一）SB36應滿足下例要求：
1、測試電壓范圍應包括：100V~500V
2、SB36測量范圍應包括：1×106Ω~1×1017Ω
3、阻值大于1012Ω時，測量誤差應小于±20%，阻值不大于1012Ω時，測量誤差應小于±10%。
4、輸入接線的絕緣電阻應大于儀器輸入電阻的100倍。
5、測試時試樣及測量導線應有良好。
6、儀器應定期進行校驗。
（二）準備工作：
1、取被測液體（如：增塑劑）試樣50ml。
2、試樣應在溫度23±2℃，相對濕度65±5%的條件下處理2小時以上。
（三）測試步驟：
1、測試溫度23±2℃，相對濕度65±5%，無外界電磁場干擾環(huán)境中進行。
2、測試時對試樣所加電壓為100V~500V的直流電壓，選擇電壓檔次。
3、將試樣倒入高壓電極內，使液面剛好和環(huán)電極下緣全部接觸為止。
4、將充分放電后的試樣和電極，按SB36型固體（液體）體積及表面電阻率測試儀要求接線。
外電極（高壓電極）接高固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的高壓輸出端。
內電極（測量電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的測量端。
中電極（環(huán)電極）接固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的接地端。
5、儀器預熱30分鐘，穩(wěn)定后調整儀器（調零），加上試驗1分鐘，讀取電阻指示值，然后放電1分鐘，再測試一次，以二次的算術平均值作為試驗樣品電阻指示值。
（四）計算方法：
按式（1）計算體積電阻系數(shù)（pv）,計算結果取二位有效數(shù)字。
（五）注意事項：
1、測定電極必須放置在高絕緣的墊板上。
2、測定電極在測試前后，均應做好清洗工作，特別是三只電極的支撐件不得受到試樣的污染。
* 例 用SB36固體（液體）體積及表面電阻率測試儀測定高分子材料體積電阻率和表面電阻率
高分子材料的電學性能是指在外加電場作用下材料所表現(xiàn)出來的介電性能、導電性能、電擊穿性質以及與其他材料接觸、摩擦時所引起的表面靜電性質等?；镜氖请妼阅芎徒殡娦阅?，前者包括電導（電導率γ，電阻率ρ=1/γ）和電氣強度（擊穿強度Eb）；后者包括極化（介電常數(shù)εr）和介質損耗（損耗因數(shù)tgδ）。共四個基本參數(shù)。 種類繁多的高分子材料的電學性能是豐富多彩的。就導電性而言，高分子材料可以是絕緣體、半導體和導體，如表1所示。多數(shù)聚合物材料具有的電絕緣性能，其電阻率高、介電損耗小，電擊穿強度高，加之又具有良好的力學性能、耐化學腐蝕性及易成型加工性能，使它比其他絕緣材料具有更大實用價值，已成為電氣工業(yè)*的材料。高分子絕緣材料必須具有足夠的絕緣電阻。絕緣電阻決定于體積電阻與表面電阻。由于溫度、濕度對體積電阻率和表面電阻率有很大影響，為滿足工作條件下對絕緣電阻的要求，必須知道體積電阻率與表面電阻率隨溫度、濕度的變化。 表1 各種材料的電阻率范圍
除了控制材料的質量外，測量材料的體積電阻率還可用來考核材料的均勻性、檢測影響材料電性能的微量雜質的存在。當有可以利用的相關數(shù)據(jù)時，絕緣電阻或電阻率的測量可以用來指示絕緣材料在其他方面的性能，例如介質擊穿、損耗因數(shù)、含濕量、固化程度、老化等。表2為高分子材料的電學性能及其研究的意義。 表2 高分子材料的電學性能及測量的意義
1 目的要求 了解SB36固體（液體）體積及表面電阻率測試儀的使用方法和實驗原理。 測出高聚物樣品的體積電阻率及表面電阻率，分析這些數(shù)據(jù)與聚合物分子結構的內在聯(lián)系。 2 原理 2.1 名詞術語 1） 絕緣電阻：施加在與試樣相接觸的二電極之間的直流電壓除以通過兩電極的總電流所得的商。它取決于體積電阻和表面電阻。 2） 體積電阻：在試樣的相對兩表面上放置的兩電極間所加直流電壓與流過兩個電極之間的穩(wěn)態(tài)電流之商；該電流不包括沿材料表面的電流。在兩電極間可能形成的極化忽略不計。 3） 體積電阻率：絕緣材料里面的直流電場強度與穩(wěn)態(tài)電流密度之商，即單位體積內的體積電阻。 4） 表面電阻：在試樣的某一表面上兩電極間所加電壓與經過一定時間后流過兩電極間的電流之商；該電流主要為流過試樣表層的電流，也包括一部分流過試樣體積的電流成分。在兩電極間可能形成的極化忽略不計。 表面電阻率：在絕緣材料的表面層的直流電場強度與線電流密度之商，即單位面積內的表面電阻。 2.2 測量原理 根據(jù)上述定義，絕緣體的電阻測量基本上與導體的電阻測量相同，其電阻一般都用電壓與電流之比得到。現(xiàn)有的方法可分為三大類：直接法，比較法，時間常數(shù)法。 這里介紹直接法中的直流放大法，該方法采用直流放大器，對通過試樣的微弱電流經過放大后，推動指示儀表，測量出絕緣電阻，基本原理見圖1。
圖1 SB36型1017Ω超高電阻測試儀測試原理圖。
U—測試電壓（V）；R0—輸入電阻（Ω）；RX—被測試試樣的絕緣電阻（Ω） 當R0《Rx時，則 Rx=（U/U0）·R0 （1） 式中：Rx——試樣電阻，（Ω）， U——試驗電壓，（V）， U0——標準電阻R0兩端電壓，（V）， R0——標準電阻，（Ω）。 |
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