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            深圳市力德欣電子科技有限公司
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            IC器件測試插座

            參  考  價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

            產(chǎn)品型號GU41-10B320-T200

            品       牌其他品牌

            廠商性質(zhì)代理商

            所  在  地深圳市

            更新時間:2025-03-16 16:43:01瀏覽次數(shù):1416次

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            GU41-10B320-T200 IC器件測試插座(高頻測試插座)GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距),適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座。

            GU41-10B320-T200

                  IC器件測試插座示意圖

                  IC器件測試插座、高頻測試插座

              GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
              適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
              1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值
              -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間
              短-溫度范圍(典型值)
              -40至+150℃(典型值)


              [可接受的器件]
              FTGB196(賽靈思)
              256針FBGA(英特爾)
              FT256/FTG256(賽靈思)
              FG256/FGG256(賽靈思)
              FG320/FGG320(賽靈思)


              [可接受的器件]
              FTGB196(賽靈思)
              256針FBGA(英特爾)
              FT256/FTG256(賽靈思)
              FG256/FGG256(賽靈思)
              FG320/FGG320(賽靈思)


              GU41系列(1.0毫米/0.039英寸間距)
              適用于BGA(FPGA),LGA測試和老化插座
              1.0mm/0.039“間距18x18觸點(diǎn)最大值
              -也可用作老化插座-高可靠性-具有成本競爭力-交貨時間
              短-溫度范圍(典型值)
              -40至+150℃(典型值)

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