PREVAC 熱解吸光譜儀 升溫解吸 TPD

TDS 40A1 專為程序升溫解吸 （TPD） 應(yīng)用而設(shè)計。

TPD涉及在UHV條件下加熱樣品，同時測量多種解吸氣體作為樣品溫度的函數(shù)。定制設(shè)計的錐形取樣端件可確保對解吸物質(zhì)的最佳響應(yīng)。

技術(shù)規(guī)格：

特點：

• 可編程

• 特別的燈絲設(shè)計

• 寬工作溫度范圍

選項：

• 四極桿 MS：100、200 或 300 amu

• 高穩(wěn)定性線性換檔

• 差動泵送（1級）

  
  

• 0C在很寬的具有小光斑輪廓的可掃描電子源。由于其Einzel透鏡的高透射率，ES 4

• 能量范圍內(nèi)提供高電子束電流。ES 40C1 專為在 AES、掃描應(yīng)用、成像、EELS 和電子脈沖或解吸實驗 （ESD） 等應(yīng)用中穩(wěn)定可靠地運行而設(shè)計。

• 技術(shù)規(guī)格：

• 安裝法蘭	DN 40CF（可旋轉(zhuǎn)）
  能量范圍	0 – 5 keV
  采樣電流	高達 100 μA
  掃描區(qū)域	10 毫米 x 10 毫米
  屏蔽	銅或μ金屬
  陰極類型	釷鎢
  插入長度	最小 155.7 毫米，（其他應(yīng)要求提供）外徑：33.5 毫米（μ金屬），35 毫米（銅）
  FWHM	取決于工作距離，最小 120 μm（距離 56 mm）
  工作距離	23 毫米 – 150 毫米（典型值為 75 毫米）
  烘烤溫度	最高 250 °C
  工作壓力	< 5×10-6毫巴

• 特征：

• 細(xì)聚焦微成型尖型陰極

• 有小光斑輪廓的可掃描電子源

• 入射電子束角校正（由ES40-PS電源提供）

• 集成掃描和偏轉(zhuǎn)單元

• 選項：

• 線性移位

• 定制插入長度

• 源屏蔽材料（μ金屬或銅）

• 電子源電源 ES40-PS

• 允許微調(diào)電子束能量、密度、樣品上的位置以及電子束輪廓。掃描功能允許獨立控制掃描速度和范圍。所有設(shè)置都可以手動調(diào)整，也可以在設(shè)備打開后自動存儲和調(diào)用。該裝置還具有內(nèi)置定時器和自動待機模式。ES40-PS可以作為全寬19“機架安裝單元（3U高）或獨立式提供。通過 USB 端口輕松更新固件。設(shè)備可通過RS232/485或以太網(wǎng)接口進行遠程控制。自動保存功能，用于保存參數(shù)/單位預(yù)設(shè)并在重新啟動后自動應(yīng)用它們。