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            線掃描膜厚儀

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            • 線掃描膜厚儀
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            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準
            • 型號 Line--scan
            • 品牌 OTSUKA/日本大塚
            • 廠商性質 生產商
            • 所在地 蘇州市
            在線詢價 收藏產品

            更新時間:2020-06-12 16:24:06瀏覽次數(shù):1915

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            產品簡介

            產地類別 進口 價格區(qū)間 面議
            應用領域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,包裝/造紙/印刷,電氣
            線掃描膜厚儀采用分光干涉式,可同時測量500點膜厚,在線檢查整面寬幅薄膜,追究工程不良的原因。

            詳細介紹

             

            線掃描膜厚儀可在線檢查整面寬幅薄膜,適用于生產。不受偏差的影響,高速測量,時間間隔僅10豪秒。

             

            線掃描膜厚儀特點

            • 采用線掃描方式檢測整面薄膜
            • 硬件·軟件均為創(chuàng)新設計
            • 作為專業(yè)膜厚測定廠商,提供多種支援
            • 實現(xiàn)高精度測量
            • 實現(xiàn)高速測量
            • 不受偏差影響
            • 可對應寬幅樣品(TD方向大可測量10m)

             

            式樣

            測量項目膜厚(FFT)
            位置分解能1mm
            測量寬幅500mm
            波長范圍400~920nm
            各單元的波長寬幅約0.6nm
            膜厚測量范圍2~250μm
            測量間隔10msec~

            測量案例

            500mm寬的包裝薄膜

            實時測量,全寬、全長的不均勻性一幕了然。

            因為我們是分光膜厚測量的,所以能實現(xiàn)高精度全寬·全長的測量。

             

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