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            行業(yè)產(chǎn)品

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            Zeta100電位納米粒度分子量分析儀

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            • Zeta100電位納米粒度分子量分析儀
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            參考價 面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 型號
            • 品牌 Sympatec/新帕泰克
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海市
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            更新時間:2025/03/19 13:27:01瀏覽次數(shù):7812

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            產(chǎn)品簡介

            產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,石油,建材/家具,電子/電池
            Zeta100是丹東百特儀器有限公司研發(fā)的一款集zeta電位、納米粒度分布、分子量測量三個功能于一體的表征納米顆粒尺寸及穩(wěn)定性的儀器。

            Zeta電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運(yùn)動速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。納米粒度分布采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動,較小

            詳細(xì)介紹

            • Zeta電位測試

            測試范圍

            -500mv ~ 500mv

            粒度范圍

            1nm-9500nm(與樣品有關(guān))

            樣品池容積

            400μl

            測試原理

            ELS(電泳光散射)

            散射角

            15 度

             大濃度

             40% w/v

            相關(guān)器

            1000通道線性相關(guān)器

            電導(dǎo)率范圍

            200 mS/cm
            • 粒度分布測試

            粒度測試范圍

            1-9500nm(與樣品有關(guān))

            測試原理

            DLS( 動態(tài)光散射)

            重復(fù)性誤差

            1%(國標(biāo)樣D50 偏差)

            相關(guān)器

            1000 個物理通道

            準(zhǔn)確性誤差

            1%(國標(biāo)樣D50 偏差)

            光源

            固體激光器

            樣品池容積

            1ml / 4ml

            激光器波長

            671nm

            樣品池溫控范圍

            1590

            激光器功率

            50mW

            溫控精度

            ±0.2

            散射角

            90 

            • 分子量測試 

            分子量范圍

            1000Da2x107Da

            準(zhǔn)確性誤差

             10%

            測試原理

            SLS(靜態(tài)光散射)

            重復(fù)性誤差

             5%

            三、主要應(yīng)用領(lǐng)域

                    包括納米金屬氧化物、水處理、納米金屬粉、納米陶瓷材料、蛋白質(zhì)、聚合物膠乳、藥物制備、水油乳液 、油漆、涂料、顏料 、油墨、調(diào)色劑 、化妝品以及其它所有納米材料研究、納米材料制備與納米材料應(yīng)用等領(lǐng)域。

            四、突出特點(diǎn)

            • BT-Zeta100電位測量采用電泳光散射(ELS)原理,通過測量顆粒在電場中的運(yùn)動速度進(jìn)而得到zeta電位。一般來說,zeta電位越高,顆粒之間相互排斥越劇烈,分散體系越穩(wěn)定。
            • 納米粒度分布測量采用動態(tài)光散射(DLS)原理,顆粒在懸浮液中進(jìn)行布朗運(yùn)動,較小顆粒的移動速度快于較大顆粒,在某個角度檢測記錄散射光強(qiáng),散射光強(qiáng)的相關(guān)曲線體現(xiàn)了顆粒的移動速度,利用這些信息可以計算顆粒的粒度分布。
            • 分子量測量采用靜態(tài)光散射(SLS)原理,散射光的強(qiáng)度與分子量直接相關(guān)。測量不同濃度中測量散射光強(qiáng),繪制德拜曲線即可得到樣品分子量。

            五、良好的重復(fù)性

            • 穩(wěn)定的折疊光路系統(tǒng)
            • 高速數(shù)據(jù)采集與轉(zhuǎn)換模塊
            • 高精度樣品池定位組件

            六、良好的準(zhǔn)確性

            • 粒度測試準(zhǔn)確性:用100nm 標(biāo)準(zhǔn)樣品測試,結(jié)果為101nm,誤差范圍為1%,遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13321 允許誤差10% 的要求。
            • Zeta 電位測試準(zhǔn)確性:用-55mv 標(biāo)準(zhǔn)樣品測試,結(jié)果為-59.7994mv,誤差范圍為8.7%,小于標(biāo)準(zhǔn)ISO13099 允許誤差10% 的要求。
            • 分子量測試

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