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            目錄:卡爾蔡司(上海)管理有限公司>>電子顯微鏡>>雙束電鏡>> FIB - 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列

            FIB - 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列
            • FIB - 蔡司雙束電鏡Crossbeam系列
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 ZEISS/蔡司
            • 型號(hào)
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 上海市
            屬性

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            更新時(shí)間:2024-12-09 14:05:33瀏覽次數(shù):9971評(píng)價(jià)

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            蔡司雙束電鏡 Crossbeam系列
             

            [產(chǎn)品簡(jiǎn)介]

            蔡司雙束電鏡Crossbeam系列,是專為高通量3D分析和樣品加工制備量身打造的FIB-SEM雙束電鏡。該系列將場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)鏡筒強(qiáng)大的成像和分析性能與全新一代聚焦離子束(FIB)鏡筒出色的加工能力相結(jié)合。無論是加工、成像或進(jìn)行3D分析,都能在不損失精度的前提下,提高聚焦離子束的應(yīng)用效率。模塊化的平臺(tái)概念可以進(jìn)行后續(xù)系統(tǒng)升級(jí),從而滿足您不斷增加的應(yīng)用需求。通過加裝飛秒激光(Femtosecond Laser)模塊,Crossbeam的加工效率和尺度可進(jìn)一步拓展,同時(shí)可以滿足多種微納加工需求。無論是在科研實(shí)驗(yàn)室或工業(yè)環(huán)境中工作,抑或是單用戶或多用戶工作環(huán)境,都能提供高質(zhì)量的解決方案。
             

            一、[產(chǎn)品特點(diǎn)]

            1、低電壓下獲得高分辨率電子圖像;

            2、可實(shí)現(xiàn)大尺寸到納米精度的切割;

            3、批量自動(dòng)制備TEM薄片樣品;

            4、Atlas 5可創(chuàng)建多尺度、多模式綜合圖像;

            5、ToF-SIMS 實(shí)現(xiàn)高通量3D成分分析;

            6、無漏磁電子鏡筒實(shí)現(xiàn)真正邊切邊看;

            7、不導(dǎo)電樣品不受荷電效應(yīng)影響;

            8、加裝飛秒激光模塊,實(shí)現(xiàn)亞毫米級(jí)快速加工,同時(shí)有效避免腔室污染;
             

            二、[應(yīng)用領(lǐng)域]

            1、生命科學(xué),如斷層掃描,三維重構(gòu);

            2、電池領(lǐng)域,如組分表征;

            3、半導(dǎo)體領(lǐng)域,如失效分析,電路修復(fù);

            4、金屬領(lǐng)域,如界面分析,亞表面分析;

            5、材料科學(xué),如晶體微觀結(jié)構(gòu)分析,微納圖形加工;

            6、透射電鏡、原子探針(ATP)、EBSD、微納力學(xué)等多種樣品的原位制備。
             

            GaN HEMT器件TEM樣品制備

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