日本進(jìn)口大面積LED太陽(yáng)光模擬器,有效光
技術(shù)文章
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原子層沉積系統(tǒng)(AtomicLayerDeposition,簡(jiǎn)稱ALD)是一種重要的薄膜制備技術(shù),在微電子、納米科技、光伏產(chǎn)業(yè)等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用。為確保沉積系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行和沉積質(zhì)量的可靠性,定期的校準(zhǔn)...2025/3/26查看全文
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LED太陽(yáng)光模擬器是能夠模擬太陽(yáng)光譜的光源,其光譜與太陽(yáng)光譜非常相似,可以用于太陽(yáng)能電池、太陽(yáng)能熱能、太陽(yáng)能光化學(xué)等領(lǐng)域的研究。在選購(gòu)LED太陽(yáng)光模擬器時(shí),可參考以下幾點(diǎn):1、要明確自己的實(shí)驗(yàn)或測(cè)試需...2025/3/26查看全文
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影響壓電系數(shù)測(cè)試儀性能的因素主要包括測(cè)試過(guò)程中的操作因素以及測(cè)試儀自身的特性因素,具體分析如下:測(cè)試過(guò)程中的操作因素1.壓力施加:壓力是否全部加于試樣:確保測(cè)試時(shí)施加的壓力均勻且完整地作用于被測(cè)樣品上...2025/3/18查看全文
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雙燈太陽(yáng)光模擬器采用雙光源設(shè)計(jì),能夠模擬出接近真實(shí)太陽(yáng)光的光譜和強(qiáng)度,為科研、生產(chǎn)和測(cè)試等領(lǐng)域提供了有力的支持。在太陽(yáng)能和光伏領(lǐng)域的應(yīng)用十分重要。通過(guò)模擬太陽(yáng)光的光譜和光強(qiáng),可以對(duì)太陽(yáng)能電池和光伏元件...2025/2/26查看全文
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高分子壓電系數(shù)測(cè)試儀的性能可能受到多種因素的影響,以下是一些主要因素:一、設(shè)備自身因素1.準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性:設(shè)備的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性是測(cè)試結(jié)果可靠性的基礎(chǔ)。如果測(cè)試儀的精度不足或穩(wěn)定性差,那么測(cè)試結(jié)果可能會(huì)...2025/2/24查看全文
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太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀是一種用于測(cè)量太陽(yáng)能電池電流-電壓(I-V)特性的重要設(shè)備,其操作流程和注意事項(xiàng)對(duì)于確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和安全性至關(guān)重要。以下將詳細(xì)介紹太陽(yáng)能電池IV測(cè)試儀的正確操作流程以及在使用過(guò)程...2025/2/12查看全文
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選擇合適的OLED光電性能測(cè)量系統(tǒng)是確保您能準(zhǔn)確評(píng)估OLED器件性能的關(guān)鍵步驟。以下是一些選擇合適測(cè)量系統(tǒng)時(shí)需要考慮的因素:1.測(cè)量參數(shù)-亮度和光譜測(cè)量:確保系統(tǒng)能夠測(cè)量OLED器件的亮度(光強(qiáng)度)和...2025/1/16查看全文
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OLED光譜分析系統(tǒng)在使用過(guò)程中可能會(huì)遇到一些問(wèn)題,以下是一些常見(jiàn)問(wèn)題的解決方法以及使用技巧:一、常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法1.光譜數(shù)據(jù)異常問(wèn)題描述:在OLED光譜分析過(guò)程中,收集到的光譜數(shù)據(jù)出現(xiàn)異常波動(dòng)或偏...2025/1/10查看全文
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薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)采用的是非接觸MOS激光技術(shù),除了對(duì)薄膜的應(yīng)力、表面曲率和翹曲測(cè)量外,可實(shí)現(xiàn)二維應(yīng)力Mapping成像統(tǒng)計(jì)分析;也可以實(shí)現(xiàn)應(yīng)力、曲率隨溫度變化的關(guān)系的測(cè)試。薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng)的特點(diǎn)包括:...2024/12/31查看全文
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太陽(yáng)能電池載流子測(cè)試是評(píng)估太陽(yáng)能電池性能的關(guān)鍵環(huán)節(jié)之一。以下是一些常用的太陽(yáng)能電池載流子測(cè)試方法:一、量子效率(QE)測(cè)試1.外量子效率(EQE)測(cè)試:原理:EQE是指太陽(yáng)能電池收集的載流子數(shù)目與入射...2024/12/26查看全文