日本尼康CMM第三代激光掃描測頭，革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭 LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機(jī)應(yīng)用。該機(jī)器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。

革命性第三代激光掃描測頭

精度可媲美接觸式測頭

LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機(jī)應(yīng)用。該機(jī)器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。

優(yōu)點(diǎn)

精度可媲美接觸式測頭

采用激光掃描測頭技術(shù)的 LC15Dx 達(dá)到了與接觸式測頭同級別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測試中，LC15Dx 達(dá)到了與使用三坐標(biāo)測量機(jī)和接觸式測頭相當(dāng)?shù)木?。但與接觸式測頭不同的是，LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測量法直接測量物體表面并消除了測頭補(bǔ)償誤差。掃描測頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器，可解決激光掃描測頭在未達(dá)到工作溫度時(shí)容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問題。

操作輕松的多功能掃描

尼康 ESP3 技術(shù)可針對每個(gè)測量點(diǎn)實(shí)時(shí)智能調(diào)整激光設(shè)定。它可以更高效地測量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且無需用戶干預(yù)、手動(dòng)調(diào)節(jié)以及表面噴粉。*的濾光軟件過濾若干非正常反射，而高級日光濾光片則可吸收環(huán)境光。

更高的產(chǎn)品質(zhì)量檢測水準(zhǔn)

全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個(gè)部件可與 CAD 模型進(jìn)行對比檢查，并用色彩映射高亮顯示需要關(guān)注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差（GD&T）庫進(jìn)行進(jìn)一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設(shè)備自動(dòng)生成或簡易或詳細(xì)的測量報(bào)告。

軟件

適合各類應(yīng)用的直觀軟件

LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi)，適用于部件與 CAD 對比檢測和特征檢測的常用軟件工具包。

重要功能包括：

• CAD 編程                      • 多傳感器三坐標(biāo)測量機(jī)

• 擬合                       • 離線編程

• 部件與 CAD 對比       • 點(diǎn)云測量

• 特征檢測                      • GD&T 庫

• 葉片分析                      • 教學(xué)編程

• 色彩報(bào)告                      • 離線模擬

應(yīng)用

測量高精度部件和小型幾何體

LC15Dx 在測量多種高精度部件和幾何體（包括精細(xì)部件、半鋼性部件和高性能材料）時(shí)具有顯著優(yōu)勢：

處理：生產(chǎn) － 研發(fā) － 逆向工程
方法：機(jī)械加工 － 模塑 － 模壓 － 澆鑄 － 鍛造
材料：金屬 － 塑料 － 橡膠 － 陶土 － 陶瓷 － 合成材料
表面處理：機(jī)械加工 － 拋光 － 電鍍 － 油漆 － 混色
結(jié)構(gòu)： 剛硬 － 柔軟 － 柔韌 － 易碎
特征： 表面 － 幾何特征 － 剖面 － 截面

多傳感器三坐標(biāo)測量機(jī)

結(jié)合激光掃描和接觸式探測

某些情況下，采用單傳感器技術(shù)無法測量所有特征。LC15Dx 可結(jié)合使用選購的接觸式測頭構(gòu)成多傳感器三坐標(biāo)多功能測量機(jī)。根據(jù)應(yīng)用需求，可在相同的檢測項(xiàng)目中單獨(dú)或共同使用這兩項(xiàng)技術(shù)。在三坐標(biāo)測量機(jī)平臺(tái)上加裝切換和存儲(chǔ)支架選購件后，可以自動(dòng)切換傳感器。

升級改造

提升當(dāng)前三座標(biāo)測量機(jī)的能力

使用 LC15Dx 來改進(jìn)您當(dāng)前的三座標(biāo)測量機(jī)是一種低成本高收益的解決方案。這種改進(jìn)基于現(xiàn)有的三座標(biāo)測量機(jī)控制器硬件，附之以兼容的*測頭系統(tǒng)，構(gòu)成可進(jìn)行接觸及非接觸式測量的多傳感器三座標(biāo)多功能測量機(jī)。

LC15Dx 改進(jìn)套件可用于以下三座標(biāo)測量機(jī)控制器系統(tǒng)。

• Aberlink       • Hexagon DEA                       • Renishaw

• Deva            • Hexagon Brown & Sharpe    • Wenze

• Coord3        • Hexagon Sheffield                  • Werth

• Dukin           • Mitutoyo                               • Zeiss

規(guī) 格  

日本尼康CMM第三代激光掃描測頭，革命性第三代激光掃描測頭 精度可媲美接觸式測頭 LC15Dx *可以替代接觸式測頭，用于日益普遍的高精度三坐標(biāo)測量機(jī)應(yīng)用。該機(jī)器可在不影響生產(chǎn)周期的情況下更精確地測量產(chǎn)品尺寸。此外，它還能更高效地測量多種部件、幾何體及材料，其中包括因尺寸極小或易碎而不宜使用接觸式測頭測量的部件。