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當(dāng)前位置：上海睿丹自動(dòng)化儀表有限公司>>檢測儀器>>其他檢測儀器>> RTD Wafer晶圓有線測溫系統(tǒng)
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)RTD Wafer
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地上海市
更新時(shí)間：2025-01-15 11:49:15瀏覽次數(shù)：1252次
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| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 生物產(chǎn)業(yè),石油,電子/電池,電氣,綜合 |
|---|
RTD Wafer 晶圓有線測溫系統(tǒng)
儀表化晶圓（熱電偶或RTD）適用于半導(dǎo)體加工設(shè)備，在這些設(shè)備中，了解和控制晶圓表面的溫度至關(guān)重要。
RTD Wafer 晶圓有線測溫系統(tǒng)
測溫范圍：-40℃至250℃
電阻器：薄膜鉑
電阻：0°C時(shí)標(biāo)稱電阻值為1000 Q
精度：±0.1℃
測溫點(diǎn)數(shù)：1~68個(gè)
傳感器引線：可定制
可提供絕緣：聚酰亞胺涂覆的銅引線
測溫探頭接口：DB37
晶圓材質(zhì)：硅片，藍(lán)寶石，碳化硅等（基材形狀和尺寸可定制）
晶圓尺寸：50mm，100mm，150mm，200mm，300mm
真空貫通帶：聚酰亞胺扁平電纜，大氣壓可達(dá)10-7Torr（長度由客戶定）
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