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            上海神洲聯(lián)測實業(yè)有限公司
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            當前位置:上海神洲聯(lián)測實業(yè)有限公司>>電力電子測試儀器>>LCR表>> LCR-8220/8220A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀

            固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀

            參  考  價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號LCR-8220/8220A

            品       牌GWINSTEK/中國臺灣固緯

            廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

            所  在  地上海市

            更新時間:2025-03-01 20:37:25瀏覽次數(shù):76次

            聯(lián)系我時,請告知來自 化工儀器網(wǎng)
            測量頻率 10Hz-30MHzHz 測量速度 最快:2.5ms(>10kHz),快速:50ms(>20Hz),中速:100ms
            測量準確度 ±0.08%% 產(chǎn)地類別 國產(chǎn)
            類型 高速LCR測量儀 外形尺寸 346(W) x145(H) x 335(D)mm
            應(yīng)用領(lǐng)域 電子,航天,汽車,電氣,綜合 重量 約3.3kg
            LCR-8220/8220A 固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀,其頻率范圍為 1MHz 至 30MHz ,能精確測量電感、電容、電阻等關(guān)鍵參數(shù),基本精度達 0.1%,50000 計數(shù)分辨率保障數(shù)據(jù)精準。具備自動元件識別功能,支持 2 線或 5 線測量模式。提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 可選測試電平,適配不同元件。設(shè)有 USB 接口,便于數(shù)據(jù)傳輸與遠程操控。
            LCR-8220/8220A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀的詳細技術(shù)參數(shù)、性能特點:
            LCR-8220/8220A固維LCR-8200/A系列高頻LCR測試儀,是應(yīng)對高頻電子元件復(fù)雜測量需求的得力工具,在電子領(lǐng)域的研發(fā)、生產(chǎn)等環(huán)節(jié)發(fā)揮著關(guān)鍵作用。
            一、全面的測量能力
            頻率覆蓋特性:頻率范圍設(shè)定在 1MHz 至 30MHz,這一區(qū)間對眾多高頻電子元件而言意義重大。在無線通信領(lǐng)域,如藍牙、ZigBee 等低功耗無線通信模塊,其內(nèi)部的電感、電容元件工作在該高頻段,元件參數(shù)的精準測量對優(yōu)化通信模塊性能、保障信號穩(wěn)定傳輸至關(guān)重要。LCR - 8220/8220A 可在此頻率范圍內(nèi)精確測量元件參數(shù),助力工程師深入了解元件特性,提升無線通信產(chǎn)品的質(zhì)量與穩(wěn)定性。例如在藍牙 4.0 模塊設(shè)計中,通過該測試儀對關(guān)鍵電感、電容的測量,能有效改善模塊的抗干擾能力和通信距離。
            多參數(shù)精準測定:能夠精確測量電感(L)、電容(C)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、品質(zhì)因數(shù)(Q)、損耗因數(shù)(D)、相位(θ)以及直流電阻(Rdc)等多種參數(shù)。以高頻電容為例,在開關(guān)電源的濾波電路中,電容的容值、損耗因數(shù)等參數(shù)直接影響電源輸出的穩(wěn)定性和純凈度。LCR - 8220/8220A 可同時準確測量這些參數(shù),為開關(guān)電源的設(shè)計優(yōu)化提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持,確保電源在高頻工作狀態(tài)下高效運行。
            二、高精度與高分辨率
            高分辨率顯示:主顯示器和輔助顯示器均具備 50,000 計數(shù)分辨率,基本精度可達 0.1%。在測量高精度電感時,高分辨率能清晰呈現(xiàn)電感值的細微變化,0.1% 的高精度確保測量結(jié)果與真實值高度吻合。在醫(yī)療電子設(shè)備、航空航天電子系統(tǒng)等對元件參數(shù)精度要求高的領(lǐng)域,LCR - 8220/8220A 的高精度測量能力可有效保障設(shè)備的可靠性和穩(wěn)定性。例如在醫(yī)用核磁共振成像設(shè)備的射頻電路中,對電感、電容等元件參數(shù)的微小偏差都可能影響成像質(zhì)量,該測試儀的高精度測量為設(shè)備的精準運行提供了堅實保障。
            靈活測量模式與速度:支持 2 線或 5 線測量方式,可根據(jù)不同元件類型和測試場景靈活選擇。測量速度具有多種模式,快速模式下每秒可進行 10 次測量,適用于大規(guī)模生產(chǎn)線上元件的快速篩選,能大幅提高檢測效率,降低生產(chǎn)成本。在電子元件生產(chǎn)企業(yè)的自動化生產(chǎn)線上,利用快速測量模式可快速排查出大量元件中的不良品。而在研發(fā)測試場景中,當對測量精度要求高且時間相對充裕時,可選擇慢速模式,每秒測量 2.5 次,以獲取更為精準的測量結(jié)果,滿足科研人員對新型電子元件特性研究的需求。
            三、豐富實用的功能特性
            自動元件識別:具備智能的自動元件類型識別功能,進入自動 LCZ 模式后,儀器可迅速判斷接入的是電感、電容還是電阻元件,并自動匹配測量模式。在電子維修工作中,面對復(fù)雜電路板上種類繁多的元件,維修人員使用 LCR - 8220/8220A 時,無需手動繁瑣判斷元件類型并設(shè)置測量模式,儀器的自動識別功能極大簡化了操作流程,能夠快速確定故障元件參數(shù),顯著提高維修效率。例如在維修智能家電主板時,可快速準確地測量各類電感、電容元件,幫助維修人員快速定位故障元件。
            可選測試電平:提供 AC 0.3V/0.7V/1Vrms 和 DC±1V 等多種可選測試電平。不同電子元件的耐壓特性差異顯著,對于低耐壓電容,選擇較低的測試電平可有效避免因電壓過高而損壞元件;而對于高耐壓元件,選用合適的高電平進行測試,能夠使測量結(jié)果更準確地反映元件在實際工作電壓下的性能。在電容器生產(chǎn)過程中,針對不同耐壓等級的電容產(chǎn)品,可靈活調(diào)整測試電平,確保測量的準確性與元件的安全性。例如在生產(chǎn)用于手機主板的低耐壓貼片電容時,可選擇 AC 0.3V 的測試電平進行測量,而對于工業(yè)變頻器中使用的高耐壓電解電容,則可選用 DC 1V 的測試電平。
            比較與數(shù)據(jù)保持:配備比較功能,用戶可預(yù)先設(shè)定元件參數(shù)的合格范圍,在測量過程中,儀器能夠快速判斷元件是否符合預(yù)設(shè)標準。在電子元件批量生產(chǎn)檢測環(huán)節(jié),通過該功能可快速篩選出不良品,有效提高生產(chǎn)質(zhì)量控制效率。數(shù)據(jù)保持功能可將測量數(shù)據(jù)鎖定,方便用戶在復(fù)雜實驗環(huán)境或繁忙的生產(chǎn)線上及時記錄和查看數(shù)據(jù),避免數(shù)據(jù)遺漏。在實驗過程中,研究人員可隨時鎖定關(guān)鍵測量數(shù)據(jù),便于后續(xù)深入分析。例如在對新型電子元件進行多組實驗測量時,可利用數(shù)據(jù)保持功能記錄不同條件下的測量數(shù)據(jù),為研究元件性能變化規(guī)律提供依據(jù)。
            四、便捷的接口與軟件支持
            豐富接口配置:配備 USB 接口,包括 USB - HID 和 USB - VCOM 接口。借助 USB - HID 接口,可方便地與計算機等設(shè)備連接,實現(xiàn)高效的數(shù)據(jù)傳輸與遠程控制。在自動化測試系統(tǒng)中,計算機通過該接口向 LCR - 8220/8220A 發(fā)送指令,控制儀器完成一系列測量操作,并實時獲取測量數(shù)據(jù)進行分析處理。USB - VCOM 接口則為設(shè)備間的通信提供了便利,有助于其融入復(fù)雜的自動化測試生產(chǎn)線,實現(xiàn)多設(shè)備協(xié)同工作,提升整體測試效率。在大規(guī)模電子元件生產(chǎn)企業(yè)的自動化測試車間中,多臺 LCR - 8220/8220A 可通過 USB 接口與中央控制系統(tǒng)連接,實現(xiàn)自動化、智能化的批量測試。
            軟件支持:提供免費的 PC 軟件,且軟件指令與 SCPI(Standard Commands for Programmable Instruments)兼容。這使得用戶能夠根據(jù)自身需求編寫個性化軟件,實現(xiàn)數(shù)據(jù)采集與分析的定制化。在科研項目中,研究人員可利用該兼容性,編寫特定軟件,對測量數(shù)據(jù)進行深度挖掘與分析,探索元件參數(shù)與特定實驗條件之間的內(nèi)在關(guān)聯(lián)規(guī)律,為科研工作提供有力的數(shù)據(jù)支持與決策依據(jù)。例如在研究新型半導(dǎo)體材料制成的電子元件特性時,可編寫專門的軟件對大量測量數(shù)據(jù)進行統(tǒng)計分析,找出元件參數(shù)與材料特性、環(huán)境因素之間的關(guān)系,為材料的優(yōu)化和元件的改進提供參考。

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