手動臺階儀 JS10B 參考價：面議
國產手動手動臺階儀 JS10B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩(wěn)定可靠的重復性測量。JS10B提供一個彩色攝像頭對樣品和針尖同時成像，可無畸變...
半自動臺階儀 JS100B 參考價：面議
半自動臺階儀 JS100B 國產半自動臺階儀JS100B/200B/300B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結構，提供穩(wěn)定可靠的重復性測量。JS100B...
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
澤攸ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機 參考價：面議
澤攸ZEM15臺式掃描電鏡能譜一體機采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內連續(xù)可調，搭配二次電子探測器、背散射電子探測器、集成式oxford能...
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡 參考價：600000
澤攸ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡便，僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無需手動調節(jié)光闌。
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡 參考價：450000
澤攸ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實時觀察樣品，無重影、拖影，不錯過每一個細節(jié)。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸...
澤攸ZEM15臺式掃描電子顯微鏡 參考價：350000
▲ 即插即用：用戶可以快速使用，無需復雜的安裝過程。▲ 體積小巧：便于放置在普通的實驗臺面上，節(jié)省空間。▲ 高性價比：預對中鎢燈絲設計，用戶可以自行更換，降低了...
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡多孔樣品桿，多孔樣品桿使研究者們可以將三個樣品同時置入透射電鏡中，大大提高了透射電鏡的使用效率。
PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡真空轉移樣品桿，樣采用可伸縮的樣品桿端頭設計，從而實現將樣品從真空室或手套箱的真空環(huán)境下轉移到透射電鏡內的目的，避免樣品被大氣環(huán)境影響...
PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時也能研究材料的低溫結構。
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡360°水平旋轉樣品桿，同時具備β角傾轉以及360水平旋轉的功能，可以在透射電子顯微鏡中多自由度高精度旋轉樣品。
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀察材料結構的變化。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現低溫電學測量或全溫區(qū)測量功能。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學測量采用全新的O圈輔助密封設計,更易封裝液體。
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統PicoFemto透射電鏡原位M。EMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現1 B...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學測量PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-ST...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針...
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量,
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量 參考價：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學測量系統,是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結構進行操縱和電學測量
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量 參考價：面議
PicoFemto掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實驗樣品原位...
原位拉伸-掃描電鏡 參考價：面議
ZEM15原位拉伸掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺，對樣品進行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實時觀察樣品表面形貌的變化產品介紹ZEM15原位...
SEM冷凍真空傳輸系統 參考價：面議
SEM冷凍真空傳輸系統高匹配360°(無限)旋轉冷臺，冷臺傾轉角度55°，冷臺溫度≤180℃。
SEM熱電芯片臺 參考價：面議
SEM熱電芯片臺可搭配電學測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。
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