澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸液氦低溫恒溫器低溫系統(tǒng)超低震動(dòng)干式液氦光學(xué)低溫恒溫器系統(tǒng)，使用氣體導(dǎo)熱隔震，實(shí)現(xiàn)樣品臺(tái)納米級(jí)的機(jī)械穩(wěn)定性。為有效降低環(huán)境震動(dòng)影響，產(chǎn)品設(shè)計(jì)安裝在光學(xué)隔震平臺(tái)...
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM 20Pro單晶燈絲臺(tái)式掃描電鏡采用單晶燈絲，最高放大36萬倍，分辨率可達(dá)3nm。自動(dòng)亮度對(duì)比度、自動(dòng)聚焦、大圖拼接。超大樣品倉可集成多種原位拓展平臺(tái)，滿...
ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15C臺(tái)式掃描電鏡秉承操作便捷、快速成像、性能穩(wěn)定的設(shè)計(jì)目標(biāo)，澤攸科技自主研發(fā)了鎢燈絲ZEM15C臺(tái)式掃描電子顯微鏡。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-原位拉伸一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-原位拉伸一體機(jī)基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化。
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡-能譜一體機(jī)兼顧樣品形貌表征及元素分析功能，體積小巧，操作簡便，安裝無需特殊環(huán)境，只需找一張桌子，供電即可工作。
ZEM Ultra場發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM Ultra場發(fā)射臺(tái)式掃描電鏡 ZEM Ultra臺(tái)式掃描電子顯微鏡，繼承了ZEM系列一貫的優(yōu)良傳統(tǒng)，不僅具有快速成像、全自動(dòng)操作等特點(diǎn)，還具備出色的抗震...
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，更易封裝液體。實(shí)驗(yàn)中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個(gè)大氣壓。...
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) ,是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng),是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量。
澤攸MEMS-STM-TEM多場測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸MEMS-STM-TEM多場測(cè)量系統(tǒng)，原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場環(huán)境（包括力、熱、光、電等）。
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺(tái) LHe-6H-06 參考價(jià)：面議
澤攸干式液氦溫區(qū)探針臺(tái) LHe-6H-06產(chǎn)品特點(diǎn)，真空腔體：真空度優(yōu)于610-4 Pa。降溫后優(yōu)于610-5 Pa。留有2個(gè)用戶法蘭接口（KF40可接入氣體或...
澤攸室溫自動(dòng)探針臺(tái) TZ-H-06 參考價(jià)：面議
澤攸室溫自動(dòng)探針臺(tái) TZ-H-06，高可靠性探針臺(tái)系統(tǒng)，主要應(yīng)用在半導(dǎo)體/微電子， 電子，機(jī)電，物理，化學(xué)，材料，光電，納米，微機(jī)電/MEMs，生物芯片等科學(xué)研...
澤攸手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
澤攸手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)，可定制手動(dòng)探針臺(tái)系統(tǒng)，整套系統(tǒng)包配置有探針臺(tái)主體、顯微鏡、針座、探針線纜、探針等。
澤攸低溫液氮探針臺(tái) LN-4H-06 參考價(jià)：面議
澤攸低溫液氮探針臺(tái) LN-4H-06產(chǎn)品主要是由真空腔體、探針控制、顯微鏡模塊、變溫樣品臺(tái)、進(jìn)口分子泵組、全旺程真空規(guī)、智能溫控儀等組成。
澤攸SEM納米探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
澤攸SEM納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各種納米精度運(yùn)...
澤攸ZP3-4 微納探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
澤攸ZP3-4 微納探針臺(tái) 可以快速、準(zhǔn)確、穩(wěn)定、使用場景多樣化、完善的技術(shù)解決方案、直觀、方便、高度集成。
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B 參考價(jià)：面議
國產(chǎn)全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS3000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，可...
全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B 參考價(jià)：面議
國產(chǎn)全全自動(dòng)臺(tái)階儀 JS2000B，擁有高精度、高分解能力，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，提供穩(wěn)定可靠的重復(fù)性測(cè)量。JS2000B提供兩個(gè)彩色攝像頭對(duì)樣品和針尖同時(shí)成像，...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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