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EDX-8800M MAX XRF Spectrometer立式X熒光光譜儀材料分析專家

EDX8800M MAX能量色散熒光光譜儀-材料分析專家

作為一款高性能的臺式高分辨率X射線熒光（EDXRF）元素分析儀，新款EDX8800M MAX配置了基于Windows基本參數算法的FP（Fundamental parameter）軟件，同時配備了高性能硬件，來滿足客戶對于復雜礦石樣品的元素分析需求。無論客戶的樣品是是固體，合金，粉末，液體或者漿液，EDX8800M MAX都可以輕松實現(xiàn)從鈉（Na）到鈾（U）元素的無損定性和定量分析。更快的分析速度，更精確的測試結果，更穩(wěn)定的儀器性能，使得EDX8800M MAX成為了客戶進行元素分析的最佳工具之一。ESI英飛思EDX8800M MAX光譜儀主要應用于在第三方實驗室及各種需要進行高精度材料成分分析的場所。作為一款全新研發(fā)的光譜儀，EDX8800M MAX具有出色的靈活性，分析性能和穩(wěn)定性。

EDX8800M MAX專注于對各種材料的主量，微量和痕量元素或化合物進行定性和定量分析，其中包括：

•鐵礦• 銅礦• 鋁土礦•貴金屬材料•稀土礦•原料•磷酸鹽•煤炭•鉛鋅礦•錳礦•鎳礦•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX8800M MAX操作簡單，分析性能出色，同時還可拓展到以下應用

>塑膠及有機物：塑料材料PE，PVC，添加劑等元素分析

>合金成分分析，牌號鑒定，貴金屬測定，三元催化分析

>石油化工：燃料，潤滑油監(jiān)測，添加劑，磨損金屬等中的硫元素分析>環(huán)境：廢水，空氣污染，土壤和地面，排放控制等>涂層厚度和薄膜：分析多層涂層，鋼涂層，雜質等>刑偵及公安：證據分析，材料匹配，爆炸物等>食品，化妝品和藥品：添加劑控制，原材料，有害金屬，包裝材料等

搭載自旋平臺EDX8800M MAX 結構圖

產品特點

作為一款專業(yè)為材料成分分析而設計和生產的光譜儀，EDX-8800M MAX兼顧了耐用性，易于操作和高性價比。其顯著優(yōu)勢主要有：

•無需或者很少的樣品制備，全程無損分析，一到三分鐘即可出結果

•高功率光管和電制冷的FSDD硅漂移檢測器不僅具有出色的短期重復性和長期重現(xiàn)性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同時進行元素和氧化物成分分析

•多重儀器硬件保護系統(tǒng)，并可通過軟件進行全程實時監(jiān)控, 讓儀器工作更穩(wěn)定、更安全

•特別設計的光路和真空系統(tǒng)大大提高了輕元素(Na, Mg, Al, Si, P）的測試靈敏度和準確性，同時可選配氦氣充氣系統(tǒng)

•友好的用戶界面，可定制的分析報告，可一鍵打印測試報告，包括分析結果，樣品信息，光譜信息和樣品圖像

•八種光路準直系統(tǒng)，根據不同樣品大小自動切換，亦可測試樣品不同位置再求平均值，降低樣品不均勻性造成的誤差

•高清內置攝像頭，清晰地顯示儀器所檢測的樣品部位

材料元素檢測專家EDX8800M MAX

>儀器參數

>儀器配置

功能強大而界面友好的測試軟件

界面清晰易用。選擇方法并輸入樣品識別信息后即可開始測量軟件內核-軟件核心算法包括FP基本參數法，Sherman方程EC經驗系數法，阿爾法α理論參數法，可以實現(xiàn)元素間增強吸收效應的校正

EDX8800M MAX已在工廠預安裝了軟件并進行了數據標定，客戶運行軟件即可立刻開始測試。無需每天重復標定。強大的軟件功能還提供了

>一鍵初始化儀器，基體自動匹配>自動定性，半定量和定量分析，不同樣品測試譜圖可實時對比>光譜處理和校正，去除雙倍峰和逃逸峰干擾，降低元素吸收增強效應影響>光譜背景扣除，有效提高微量元素檢測精度>可實時刷新測量結果>簡單的流程欄向導可幫助用戶創(chuàng)建新的自定義標定曲線>可定制化測試報告，一鍵打印

典型應用測試報告

1.合金應用案例采用壓片法制備樣品，硅鐵粉末樣品10次測試穩(wěn)定性報告

壓片樣品制備步驟：研磨制樣-稱重-混入粘合劑-使用壓片機壓片-上機測試

2.原材料應用案例采用熔片法制備樣品，石灰石樣品10次測試穩(wěn)定性報告

快速熔片法樣品制備步驟：研磨制樣-稱樣-預氧化-加入熔樣試劑-熔片機熔片-冷卻-上機測試

3.礦石應用案例采用熔片法制備樣品，石英砂10次測試穩(wěn)定性報告

典型石英砂XRF光譜圖