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            目錄:光焱科技股份有限公司>>傳感器檢測(cè)>>SPAD檢測(cè)>> SPD2200新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

            新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備
            • 新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            參考價(jià) 面議
            具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
            • 品牌 Enlitech
            • 型號(hào) SPD2200
            • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
            • 所在地 高雄市
            屬性

            價(jià)格區(qū)間:面議 應(yīng)用領(lǐng)域:電子,汽車(chē)

            >

            更新時(shí)間:2025-03-07 16:33:03瀏覽次數(shù):3620評(píng)價(jià)

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            暗計(jì)數(shù)(Dark?Count?Rate) DCR 產(chǎn)地類別 進(jìn)口
            測(cè)量模式 咨詢光焱科技專家
            單光子探測(cè)器可以對(duì)單個(gè)光子進(jìn)行探測(cè)和計(jì)數(shù),在許多可獲得的信號(hào)強(qiáng)度僅為幾個(gè)光子能量級(jí)的新興套用中,單光子探測(cè)器可以一展身手。SPD2200是針對(duì)新型的單光子偵測(cè)器(SPD, Single Photon Detector),如應(yīng)用於dToF的SPAD(Single Photon Avalanche Detector)光感測(cè)器,的特性測(cè)試分析設(shè)備。

            特色

            SPD2200具備全光譜性能測(cè)試包含


            *全光譜光譜回應(yīng)(SR, Spectral Responsivity)

            *全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)

            *全光譜光子探測(cè)率(PDP, Photon Detection Probability)

            *暗計(jì)數(shù)DCR (Dark Count Rate)

            *崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)


            SPD2200亦能夠測(cè)試SPD的單光子辨析特性分析,包含:

            *Jitter

            *Afterpulsing probability

            *Diffusion tail

            *SNR

            SPD2200整合了所有*進(jìn)光學(xué)與電學(xué)系統(tǒng),搭配光焱科技多年光感測(cè)器測(cè)試與分析的經(jīng)驗(yàn),提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設(shè)的時(shí)間成本,並降低測(cè)試結(jié)果的不確定性。 加快產(chǎn)品的開(kāi)發(fā)週期,提升產(chǎn)品的競(jìng)爭(zhēng)力。

            實(shí)證

            *SPAD的暗計(jì)數(shù)與偏壓關(guān)係圖

            新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

            *SPAD暗計(jì)數(shù)與崩潰電壓

            新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

            *在不同電壓下SPAD光子探測(cè)效率的PDE光譜

            新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備

            *SPAD的Jitter測(cè)量

            新型單光子偵測(cè)器特性分析設(shè)備





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