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            丹東征程無損檢測設備有限公司
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            A型B型-便攜式相控陣試塊護環(huán)探傷專用試塊
            • A型B型-便攜式相控陣試塊護環(huán)探傷專用試塊

            貨物所在地:遼寧丹東市

            地: 遼寧省丹東市振安區(qū)

            更新時間:2025-03-07 21:00:07

            瀏覽次數:180

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            ( 聯(lián)系我們,請說明是在 化工儀器網 上看到的信息,謝謝?。?/p>

            產品型號和價格
            A型護環(huán)試塊(20#鋼) 3750
            B型護環(huán)試塊(20#鋼) 4450
            A型(鋁、不銹鋼) 4400
            B型(鋁、不銹鋼) 5100
            A型翻轉架 400
            B型固定支架 180
            便攜式相控陣試塊護環(huán)探傷專用試塊

            便攜式相控陣試塊是國際標準試塊:

            A型便攜式相控陣試塊,B型便攜式相控陣試塊是國際標準試塊,符合ASTM E 2491-08標準

            一、相控陣探頭晶片靈敏度差異與有效性測試

            1、一般要求:該項測試要求儀器軟件能夠對相控陣探頭的每個晶片進行逐一激發(fā)。

            2、測試方法:

            2.1將相控陣探頭均勻穩(wěn)定地耦合在角度增益修正試塊(或等效試塊)表面,單獨激發(fā)一個晶片,得到高反射回波。

            2.2調節(jié)增益值使晶片回波達到80%滿屏高度,記錄此時的增益值。

            2.3單獨激發(fā)下一個晶片,并重復B22,直至last個晶片(沿著陣列中所有陣元一次一個陣元步進)。

            3、判斷:如出現(xiàn)以下情況,認定為晶片為壞晶片:

            a) 未見底面回波信號的晶片;

            b) 有底面回波信號但信噪比小于12dB的晶片:

            c)同一陣列中靈敏度明顯偏低,比其他晶片的平均靈敏度低9dB以上的晶片。

            B.4對測試結果進行復核

            二、背景技術護環(huán)是發(fā)電機的重要組成部分,是發(fā)電機中承受應力最高的部件之一,是用以固定和保護纏繞在發(fā)電機轉子兩端線圈的大型鋼環(huán)。護環(huán)材料多采用奧氏體無磁鋼整體鍛造而成。處于運行工況中的發(fā)電機護環(huán),不僅承受旋轉應力、離心力、配合應力等應力作用,還伴隨著應力腐蝕及電燒傷等因素,因此護環(huán)的嵌裝面、緊力面r角部位極易誘發(fā)裂紋類缺陷,如不能及時檢測出缺陷的存在,將危及設備的安全運行。相控陣超聲縱波檢測與常規(guī)a型脈沖超聲波檢測相比,具有多種顯示模式,聲束角度范圍大且能聚焦到重點檢測部位,檢測圖譜可存儲等優(yōu)點,在復雜缺陷的判斷等方面具有顯著技術優(yōu)勢。但現(xiàn)在沒有專門的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊。因此開發(fā)一種發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,可有助于大幅提高發(fā)電機護環(huán)裂紋相控陣超聲檢測的準確性和可靠性。

            三、技術實現(xiàn)要素:本發(fā)明的目的在于克服上述現(xiàn)有技術的缺點,提供了一種發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,該試塊能夠有助于提高發(fā)電機護環(huán)裂紋相控陣超聲檢測的準確性及可靠性。為達到上述目的,本發(fā)明所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊包括奧氏體無磁鋼塊。

            四、具體應用過程為:

            1)將相控陣探頭9與相控陣超聲檢測儀8相連接;

            2)將相控陣探頭9放置于本發(fā)明上,并使得相控陣探頭9依次對準第一橫通孔2、第二橫通孔3、第三橫通孔4、第四橫通孔5及第五橫通孔6,然后微調相控陣探頭9的位置,使橫通孔的超聲反射波幅最大,同時調節(jié)增益,使得該超聲反射波幅為滿屏刻度的80%,使不同深度、不同角度下φ1mm橫通孔反射回波波幅均達到滿屏的80%,以繪制時間增益修正曲線;

            3)分別確定超聲縱波檢測和超聲橫波檢測時的檢測靈敏度及判廢線;

            4)通過相控陣探頭9對待檢測發(fā)電機護環(huán)7進行檢測,并將檢測的結果與時間增益修正曲線進行比較,并根據比較結果依據掃查靈敏度及判廢線判斷缺陷的程度,即根據檢測結果獲取當前缺陷對應的反射波幅,并根據所述反射波幅判斷缺陷的程度。

            五、技術特征:

            1.一種發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,包括奧氏體無磁鋼塊(1),奧氏體無磁鋼(1)上設置有第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6),其中,第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)自上到下依次分布,且第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)在垂直方向上等間距分布,第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)在水平向上等間距且依次分布。

            2.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)與奧氏體無磁鋼塊(1)端部之間的距離不同。

            3.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,奧氏體無磁鋼塊(1)的長度、寬度及高度分別為300mm、40mm及120mm。

            4.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)的孔徑均為1mm。

            5.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)的長度均為40mm。

            6.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,奧氏體無磁鋼塊(1)的端面與第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)之間在垂直方向的距離分別為60mm、70mm、80mm、90mm及100mm。

            7.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,奧氏體無磁鋼塊(1)的端面與第一橫通孔(2)、第二橫通孔(3)、第三橫通孔(4)、第四橫通孔(5)及第五橫通孔(6)之間在水平方向的距離分別為50mm、100mm、150mm、200mm及250mm。

            8.根據權利要求1所述的發(fā)電機護環(huán)相控陣超聲檢測用試塊,其特征在于,奧氏體無磁鋼塊(1)的材質為mn18cr18n系或mn18cr5系。

            便攜式相控陣試塊是國際標準試塊













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