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            無錫駿展儀器有限責任公司
            中級會員 | 第4年

            18068309380

            MINITEST740

            參  考  價面議
            具體成交價以合同協(xié)議為準

            產(chǎn)品型號

            品       牌ElektroPhysik/德國EPK

            廠商性質(zhì)代理商

            所  在  地無錫市

            更新時間:2024-06-21 16:03:50瀏覽次數(shù):1115次

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            應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,綜合
            MINITEST740,MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標準配置: 配件:帶塑料手提箱,內(nèi)含: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架

            EPK MINITEST740

            EPK MINITEST740

            EPK MINITEST 720/730/740涂層測厚儀標準配置: 配件:
            帶塑料手提箱,內(nèi)含: -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
            -MINITEST 720(內(nèi)置探頭)
            --或MINITEST 730(外置探頭)
            --或MINITEST740主機(不含探頭,有各種探頭可選)
            -校準套裝含校準片和零板
            -操作使用說明CD,德語、英語、法語、西班牙語
            -2節(jié)AA電池

            MINITEST 720/730/740涂層測厚儀技術(shù)數(shù)據(jù)表
            SIDSP探頭


            涂層測厚儀探頭
            特性

            F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5

            F2

            F5,N2.5,F(xiàn)N5

            F15

            F

            N

            F

            F

            N

            F

            涂層測厚儀測量范圍

            0-1.5mm

            0-0.7mm

            0-2mm

            0-5mm

            0-2.5mm

            0-15mm

            涂層測厚儀使用范圍

            小工件,薄涂層,跟測量支架一起使用

            粗糙表面

            標準探頭,使用廣泛

            厚涂層

            涂層測厚儀測量原理

            磁感應(yīng)

            電渦流

            磁感應(yīng)

            磁感應(yīng)

            電渦流

            磁感應(yīng)

            涂層測厚儀信號處理

            探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

            涂層測厚儀精度

            ±(1μm+0.75%讀值)

            ±(1.5μm+0.75%讀值)

            ±(5μm+0.75%讀值)

            涂層測厚儀重復性

            ±(0.5μm+0.5%讀值)

            ±(0.8μm+0.5%讀值)

            ±(2.5μm+0.5%讀值)

            低端分辨率

            0.05μm

            0.1μm

            1μm

            曲率半徑(凸)

            1.0mm

            1.5mm

            5mm

            曲率半徑(凹,外置探頭)

            7.5mm

            10mm

            25mm

            曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭)

            30mm

            30mm

            30mm

            測量面積

            Φ5mm

            Φ10mm

            Φ25mm

            基體厚度

            0.3mm

            40μm

            0.5mm

            0.5mm

            40μm

            1mm

            連續(xù)模式下測量速度

            每秒20個讀數(shù)

            單值模式下大測量速度

            每分鐘70個讀數(shù)


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