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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM PCB 220，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及...

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM231/232/237,無論是高精度鍍層厚度測量或是精確材料成分分析，FISCHER眾多系列的X射線熒光光譜儀可以...

Fischerscope X-ray XDL 220，XDLM測量系統(tǒng)經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/...

Fischerscope X-rayXDL210，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。由于采...

FISCHERSCOPE GOLDSCOPE SD510 / 515，GOLDSCOPE SD 520 和 GOLDSCOPE SD 550 配備了數字脈沖處理...

Fischerscope X-RAY XAN250/252，高性能X射線熒光測量儀，配有非常先進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分...

FISCHERSCOPE X-RAY XULM240PCB，應用電鍍層，例如鐵上的鋅或鐵上的鋅鎳，用于大批量生產的零件（螺母和螺栓）的腐蝕防護電鍍液中金屬含量的...

菲希爾鍍層測厚儀Fischer X射線,FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶...

菲希爾鍍層測厚儀X熒光射線儀器，由于運用了各種測量技術，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產和質量管理系統(tǒng)中。

菲希爾X熒光射線鍍層測厚儀，取決于測量距離和孔徑大小，實際的量點大小與視頻。窗口中顯示的一致，小測量點大?。杭s為φ0.51mm

FISCHER X熒光射線測厚儀 菲希爾，手持式、臺式、在線： XAN500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能最多樣化的設備。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210/220/230/240菲希爾X射線測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。

XDAL237菲希爾X射線測厚儀，在設計上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。

FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN菲希爾，根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用...

菲希爾X熒光射線測厚儀Fischer，菲希爾X射線測厚儀比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。

Fischerscope XAN215鍍層測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款頗具性價比的入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層...

菲希爾代理X熒光射線測厚儀，配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。

X射線測厚儀，XUL儀器適合測量不同形狀的細小工件，如螺絲，螺釘或螺帽，連接器觸點及其它電子元器件。

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