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            意大利 ISS 快速熒光壽命成像系統(tǒng) FastFLIM Q2技術(shù)參數(shù)

            時(shí)間:2023/5/9閱讀:184
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            激光共焦多維成像系統(tǒng):FLIM / FCS 時(shí)間分辨的空間分辨顯微系統(tǒng):ISS 推出新一代的快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/PLIM。成像速度可達(dá) 20 fps 256×256),自由選擇1×1到4096×4096像元分辨率;同時(shí)獲取熒光壽命成像和共焦強(qiáng)度成像數(shù)據(jù),保持單分子級(jí)的檢測靈敏度。用于化學(xué)、納米、能源、生物等學(xué)科方向,單分子、活細(xì)胞、微區(qū)成像及形貌、能級(jí)結(jié)構(gòu)和能量傳遞特征的機(jī)理研究。滿足上轉(zhuǎn)換量子點(diǎn)及相關(guān)材料的壽命成像測試ISS以整機(jī)的熒光壽命成像系統(tǒng)為己任,實(shí)現(xiàn)共焦三維掃描模塊(針孔,二維振鏡、壓電臺(tái)或自動(dòng)工作臺(tái))和時(shí)間分辨模塊的結(jié)合,提供<100ps-100ms的全時(shí)域熒光壽命檢測;同時(shí)軟件融合Phasor Plots熒光壽命直讀半圓規(guī)的矢量圖技術(shù),可視化、直觀的提供熒光壽命分布及數(shù)值。

            熒光壽命成像數(shù)據(jù)分析進(jìn)入直讀時(shí)代。ISS 激光共焦掃描熒光壽命成像系統(tǒng),還可以同時(shí)滿足以下特殊需要:1. 雙光子的熒光壽命 FLIM/PLIM 成像;2. 深紫外激發(fā)的熒光壽命 FLIM / PLIM 成像;3. 紅二區(qū)熒光壽命 FLIM /PLIM 成像;4. 激光掃描大視場活體成像 FLIM /PLIM ;5. 光譜采集及光譜成像;6. AFM聯(lián)用--活細(xì)胞工作站聯(lián)用--冷凍及加熱工作臺(tái)聯(lián)用;7. 納米顆粒三維跟蹤;(專有技術(shù))

            主要功能描述:(可以選擇雙光子功能)激光共焦熒光強(qiáng)度成像LCM;熒光壽命成像FLIM,磷光壽命成像PLIM;上轉(zhuǎn)換熒光(壽命)成像,稀土發(fā)光(壽命)成像,延遲熒光(壽命)成像;熒光波動(dòng)成像FFS(FCS,F(xiàn)CCS, PCH,N&B, RICS, FLCS,scan-FCS),FLIM-FRET成像;熒光定量成像;單量子點(diǎn)發(fā)光(壽命)成像,單分子及單分子熒光共振轉(zhuǎn)移成像smFRET,包括交替激發(fā)PIE成像;穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像;微區(qū)熒光光譜采集 400-1100nm;反聚束測試(含專業(yè)軟件);活細(xì)胞工作站升級(jí)(含多孔板)儀器特點(diǎn):實(shí)時(shí)直讀式獲得熒光壽命數(shù)值及變化趨勢,F(xiàn)RET效率分布;選擇350nm-1100nm加上900nm-1700nm波長范圍檢測器,2-4通道檢測器,用于成像,F(xiàn)LIM-FRET;可以升級(jí)無波長干擾AFM(正置或倒置),實(shí)現(xiàn)同區(qū)域形貌和FLIM同步測試;紫外-可見-紅外激發(fā)波長,單波長或超連續(xù)激光器;單光子或雙光子的激光器;

            主要技術(shù)指標(biāo)1. 熒光壽命測試范圍:100ps-100ms;2. 最小時(shí)間分辨率≤1ps;3. 數(shù)據(jù)計(jì)數(shù)速率:65 MHz/channel4. 檢測通道:upto 8 channels;5. 標(biāo)配xy振鏡掃描,5kHz掃描頻率,配合xy閉環(huán)自動(dòng)臺(tái)實(shí)現(xiàn)大區(qū)域掃描;6. Phasor plots 用于數(shù)據(jù)分析;7. 光譜采集;400-1100nm8. 掃描透射成像;9. 界面聚焦系統(tǒng);10. 變溫附件;77k-500k;

             

             


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