Amptek最近將硅片制造引入內(nèi)部，并改進(jìn)了工藝。其結(jié)果是檢測(cè)器具有更低的噪聲、更低的漏電流、更好的電荷收集以及從檢測(cè)器到檢測(cè)器的均勻性。
XR-100是一款熱電冷卻固態(tài)探測(cè)器和前置放大器。建議用于需要最佳能量分辨率、 計(jì)數(shù)率和 X射線能量的應(yīng)用。它的性能、體積小、成本低，是許多實(shí)驗(yàn)室和OEM X射線光譜應(yīng)用的理想探測(cè)器，包括EDS和XRF。
在XR-100SDD中，探測(cè)器安裝在擴(kuò)展器上（有幾種不同的長(zhǎng)度可供選擇），前置放大器位于連接的金屬盒中。它需要一個(gè)單獨(dú)的信號(hào)處理器和電源；Amptek的PX5是推薦的，非常適合大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室使用。相同的探測(cè)器可在較小的X-123SDD封裝中使用，或帶有用于OEM和自定義系統(tǒng)的較小前置放大器。
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功能
高峰底比–20000:1
兩級(jí)熱電冷卻器
冷卻ΔT>85 K
溫度監(jiān)測(cè)器
密封包裝（TO-8）
檢測(cè)范圍廣
易于操作
輻射強(qiáng)度
應(yīng)用程序
X射線熒光
RoHS/WEEE
貴金屬
合金分析
燈光元素
EDS
教學(xué)與研究
過程控制
穆斯堡爾光譜儀
像素
波長(zhǎng)色散XRFAmptek最近將硅片制造引入內(nèi)部，并改進(jìn)了工藝。其結(jié)果是檢測(cè)器具有更低的噪聲、更低的漏電流、更好的電荷收集以及從檢測(cè)器到檢測(cè)器的均勻性。這使其成為可用的性能 PIN檢測(cè)器。
硅PIN是一種高性能熱電冷卻X射線探測(cè)器，可以與幾個(gè)前置放大器和數(shù)字脈沖處理器配置相結(jié)合。它通常用于需要中等能量分辨率和中等計(jì)數(shù)率的實(shí)驗(yàn)室X射線光譜應(yīng)用，其中成本很重要。它非常適合許多XRF應(yīng)用，如識(shí)別金屬合金、驗(yàn)證RoHS/WEEE合規(guī)性以及檢測(cè)油漆中的鉛。
SiPIN的能量分辨率在139到190eV FWHM的范圍內(nèi)，這取決于探測(cè)器面積。它在低于30kcps的計(jì)數(shù)率下最好，并且適用于1.5到30keV之間的X射線。它使用 耗盡的500 um Si PIN光電二極管，并可提供1或0.5 mil Be窗口。
在XR-100CR中，探測(cè)器安裝在擴(kuò)展器上（有幾種不同的長(zhǎng)度），前置放大器位于連接的金屬盒中。它需要一個(gè)單獨(dú)的信號(hào)處理器和電源；Amptek的PX5是推薦的，非常適合大多數(shù)實(shí)驗(yàn)室使用。相同的硅PIN探測(cè)器可在較小的X-123封裝中使用，或帶有用于OEM和定制系統(tǒng)的較小前置放大器。
X123 SiPIN
X-123是一個(gè)完整的X射線探測(cè)器系統(tǒng)，裝在一個(gè)小盒子里，可以放在你的手上。X-123代表了Amptek 14年X射線探測(cè)器開發(fā)的 。我們的理念一直是創(chuàng)造小型、低功耗、高性能的儀器，同時(shí)保持操作簡(jiǎn)單。X-123通過在單個(gè)封裝中提供XR-100CR X射線探測(cè)器及其電荷敏感前置放大器來體現(xiàn)這一理念；DP5數(shù)字脈沖處理器，帶脈沖整形器、MCA和接口；以及PC5電源。所需的只是一個(gè)+5 V直流輸入和一個(gè)USB或RS-232連接到您的計(jì)算機(jī)。
