目錄:賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司>>掃描電子顯微鏡>> SEM掃描電鏡
| 參考價(jià) | 面議 |
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更新時(shí)間：2024-09-01 21:49:58瀏覽次數(shù)：2498評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 冷場(chǎng)發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,電子/電池,綜合 |
NEW簡(jiǎn)單SEM
SEM掃描電鏡只需選擇目標(biāo)視野
“簡(jiǎn)單SEM"支持日常工作
樣品：電子元件
加速電壓：15 kV，放大倍數(shù)：×50（上部）×1,000（下部），信號(hào)：BE
JSM-IT510 InTouchScope™SEM掃描電鏡樣品交換導(dǎo)航
從樣品交換引導(dǎo)至自動(dòng)觀察安全簡(jiǎn)單！
1.按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品
測(cè)量樣品高度
2. 準(zhǔn)備抽真空觀察
*1樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件
*2大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件
*3樣品室相機(jī)（CS）是選配件
3.自動(dòng)開始觀察
真空完成后自動(dòng)成像
水圖片1.jpg Zeromag
JSM-IT510 InTouchScope™掃描電子顯微鏡輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無(wú)縫轉(zhuǎn)換
Zeromag功能簡(jiǎn)化了導(dǎo)航，提供從光學(xué)圖像到SEM圖像的無(wú)縫過渡。
SEM、光學(xué)圖像和樣品臺(tái)示意圖全部鏈接在一起，以獲得分析位置的全局視圖。
樣品：菊石化石加速電壓：7kV信號(hào)：BE
水圖片1.jpg實(shí)時(shí)分析/實(shí)時(shí)引導(dǎo)圖*2
1.SEM觀察的同時(shí)掌握該區(qū)域的元素組成
實(shí)時(shí)分析是一項(xiàng)在圖像觀察期間實(shí)時(shí)顯示EDS光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。
2.簡(jiǎn)單分析
最多點(diǎn)擊3次即可開始EDS分析
水圖片1.jpg多種高級(jí)選項(xiàng)
1.NEW低真空混合二次電子探測(cè)器（LHSED）*
該新型探測(cè)器可以收集電子和光子信號(hào)，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像
2.NEW實(shí)時(shí)3D*
新多向分割BE探測(cè)器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。
即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時(shí)3D也可以直觀的將其清晰的表現(xiàn)出來(lái)，并獲取其深度信息。
樣品：螺釘加速電壓：15kV放大倍數(shù)：x100信號(hào)：BE
3.蒙太奇
蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。
樣品：菊石化石
加速電壓：15kV放大倍數(shù)：x150信號(hào)：BE視野數(shù)：13 x 13。
4.顯示信號(hào)深度
此功能實(shí)時(shí)顯示被測(cè)樣品的分析深度（近似數(shù)值），對(duì)元素分析非常有用。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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