多功能原子力顯微鏡平臺，滿足納米級測量的需求。

-原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機械性能測量的能力。

-納米管掃描系統(tǒng)可用于高分辨率掃描離子電導(dǎo)顯微鏡(SICM)。

-倒置光學(xué)顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

電化學(xué)測試的平臺：

電池，燃料電池，傳感器和腐蝕等電化學(xué)研究均處于快速增長階段

然而許多原子力顯微鏡不能直接滿足其特殊的需求。科研AFM Park NX12的人性化設(shè)計， 為快速操作提供便利，從而達(dá)到化學(xué)研究人員要求的功能性和靈活性。這主要包括:

?多功能易用電化學(xué)池

?惰性氣體和濕度的環(huán)境控制選項

?雙恒電位儀的兼容性

研究人員可利用NX12平臺實現(xiàn)各種電化學(xué)應(yīng)用：

?掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)

?掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)

-電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM)和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM)

光纖接入驅(qū)動聚焦平臺：

通過考驗的NX10性能 O配備倒置光學(xué)顯微鏡

頂置顯微鏡與倒置顯微鏡相結(jié)合的雙光路樣品臺,科研AFM Park NX12埒Park原子力顯微鏡的多功能 性和準(zhǔn)確性相結(jié)合。為使用者提供機會研究不同透明度及不同硬度的樣品

基于AFM的電化學(xué)應(yīng)用：

改系統(tǒng)在測量期間可以從各個角度，頂部，側(cè)面以及頂部接入探針。

這種可以大范圍投置燈光的方式與設(shè)備模塊設(shè)計相結(jié)合，還可添加光學(xué)或納米材料。

考慮建立多用戶設(shè)備 NX12*重新構(gòu)建，以適應(yīng)多用戶研究機構(gòu)需求。其他原子力顯微鏡解決方案缺乏必要的多功能性， 難以滿足該設(shè)備中用戶的多重需求，很難合理控制設(shè)備成本。然而, NX12旨在能夠容納標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境原子力 顯微鏡成像，液體掃描探針顯微鏡,光學(xué)和納米光學(xué)成像，使其成為最靈活的原子力顯微鏡之一。

? NX12是專E針對專業(yè)電化學(xué)研究人員需求量身定制的原子力顯微鏡平臺。

?它基于化學(xué)和電化學(xué)性質(zhì)，氣體和液體中介質(zhì)的特性，為掃描探針顯微鏡提供了一個通用的解決方案, 可廣泛的應(yīng)用于不透明度的材料。

模塊化設(shè)計：

? NX12基于其廣泛的可視光投置到掃描探針的掃描探針顯微鏡技術(shù)的納米管，易用性強。

? NX12準(zhǔn)確度好，是多用戶設(shè)備和職業(yè)研究人員的理想平臺。

-多功能應(yīng)用：

ParkNX12功能廣泛,包括液體中的PinPoint™和納米力學(xué)，倒置光學(xué)顯微鏡定位透明樣品, 離子電導(dǎo)顯微鏡超軟樣品成像,以及增強透明樣品的光學(xué)可視性。

NX12提供了一種在液態(tài)和空氣中的納米力 學(xué)表征的完整解決方案，

使其成為廣泛應(yīng)用中的理想選擇。

綜合性的力譜方法

NX12模塊化設(shè)計，安裝簡單，兼容性強, 可以滿足您的多種實驗需求。

精準(zhǔn)和最容易操作的AFM

簡單的探針和樣品更換

設(shè)計能讓您輕易地用手從側(cè)面更換新的探針和樣品。 借助安裝懸臂式探針夾頭中預(yù)先對齊的懸臂,無需再進(jìn)行繁 雜的激光校準(zhǔn)工作。

閃電般快速的自動探針接近

自動的探針樣品接近功能讓用戶無需進(jìn)行干預(yù)操作。通過監(jiān)視懸臂接近表 面的反應(yīng),NX12能夠在懸臂裝載后十秒內(nèi)幵始并自動快速完成探針 樣品接近操作。高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲 信號處理使得無需用戶干預(yù)就能快速接觸樣品表面。

快速精準(zhǔn)激光調(diào)節(jié)

憑借我們良好的預(yù)校準(zhǔn)懸臂架，懸臂在裝載時激光便已聚焦完畢。此外，作為業(yè)內(nèi)一家可以提 供自上而下的同軸視角讓您輕松找到激光光點。由于激光垂直照射在懸臂上，您可通過旋轉(zhuǎn)兩個 定位旋鈕直觀地在X軸丫軸移動激光光點。這樣您可以在激光準(zhǔn)直頁面中輕易找到激光并將其定位 在PSPD上。此時您只需要稍微調(diào)整到大化信號,便可幵始獲取數(shù)據(jù)。

NX12

靈活性，伸縮性高，可滿足各種需求

NX系列有適合大眾化的各種掃描模式，能滿足您的所有硏究需求。

選項

范圍廣泛的環(huán)境控制選項包括了多功能電化學(xué)池，控溫臺和濕度控制的手套箱。

規(guī)格：

掃描器

Z掃描器

XY掃描器

尺寸單位為亳米

AFM掃描頭

SICM掃描頭

驅(qū)動臺

柔性引導(dǎo)高推動力掃描器 掃描范圍：15 nm(可選30卩m)

多層壓電疊層驅(qū)動器驅(qū)動的柔性引導(dǎo)結(jié)構(gòu) 掃描范圍：15 nm(可選30卩m)

閉環(huán)控制的柔性引導(dǎo)XY掃描器 掃描范圍：100卩m X100 |im

ParkNX12倒置光學(xué)顯微鏡

436 mm

影像

導(dǎo)致光學(xué)顯微鏡

XY驅(qū)動臺行程范圍:50mmx50 mm 樣品表面和懸臂的直觀同軸影像

Z驅(qū)動臺行程范圍:25 mm 聚焦驅(qū)動臺行程范圍：15mm

視野:840卩m X 630卩m (10倍物鏡) 攝像頭:5 M Pixel (默認(rèn))，IM Pixel (可選)

物鏡:直到100% 熒光顯微鏡(可選) 共聚焦顯微鏡(可選)

電子信號處理

ADC: 18通道

10倍(NA. 0.23)超長工作距離鏡頭

20倍(NA. 0.35)高分辨率，長工作距離鏡頭

集成功能

3通道數(shù)字鎖相放大器

24-bitADC的X,Y和Z掃描器位置傳感器彈性系數(shù)校準(zhǔn)(熱方法)

DAC:17通道數(shù)據(jù)Q控制

20-bit DAC的X,Y和Z掃描器定位

選項/模式信號處理

化學(xué)性能

信號處理

軟件

•非接觸模式(TrueNon-ContacHMode)•掃描電化學(xué)池顯微鏡(SECCM)

•接觸模式•掃描電化學(xué)顯微鏡(SECM)

•側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM)

•相位成像模式

•輕敲模式

• Pinpoint^ 模式:Pinpoint 成像

•電化學(xué)原子力顯微鏡(EC-AFM) 和電化學(xué)掃描隧道顯微鏡(EC-STM)

•功能化採針的化學(xué)力顯微鏡

•真正的非接觸模式

•接觸模式

•側(cè)向摩擦力顯微術(shù)(LFM)

•相位成像模式

•輕敲模式

• Pinpoint^ 模式:Pinpoint 成像

力測量

磁性能

熱性能

625 mm

710 mm

•力一距離(F-D)光譜

•力譜成像

•磁力顯微鏡(MFM)

•可調(diào)外加磁場MFM

•掃描熱顯微鏡(SThM)

電性能機械性能

•導(dǎo)電AFM (CP-AFM)

•Pinpoint^ 導(dǎo)電AFM

•I-V譜線

•掃描開爾文採針顯微鏡(SKPM/KPM) •高電壓SKPM

•Quickstep^掃描電容顯微鏡(SCM)•Pinpoint'，納米力學(xué)模式

•掃描電阻顯微鏡(SSRM)•力調(diào)制顯微鏡(FMM)

•掃描隧道顯微鏡(STM)•納米壓痕

•掃描隧道光譜(STS)•納米刻蝕

•光電流測繪(PCM)•高電壓納米刻蝕

•SICM Current-distance (l/d)Spectroscopy•納米操縱

手套箱(可選)

•可準(zhǔn)確控制濕度

•氣體環(huán)境的構(gòu)成

•絕緣高反應(yīng)原料

Park SmartScanTM

配件

• AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集的專用軟件

•自動模式的快速設(shè)置和簡易成像

•手動模式的高級使用和更精密的掃描控制

XEI

• AFM數(shù)據(jù)分析軟件

•獨立設(shè)計一-可獨立安裝和分析數(shù)據(jù)

•控溫臺

•手套箱

•磁場發(fā)生器

•液態(tài)選項

•隔音罩

•能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制

尺寸單位為亳米

ParkNX12倒置光學(xué)顯微鏡