K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)

K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)用于高性能表面分析的 X 射線光電子能譜

Thermo Scientific K-Alpha X射線光電子能譜儀 (XPS)系統(tǒng)為表面分析帶來了一種新方法。K-Alpha XPS 系統(tǒng)專注于使用簡化的工作流程提供高質(zhì)量的結(jié)果，使 XPS 操作簡單直觀，而不會(huì)犧牲性能或功能。K-Alpha XPS系統(tǒng)是一種集成式單色小光斑XPS系統(tǒng)，具備深度剖析能力。

更先進(jìn)的性能、更低的價(jià)格、更容易的使用性和較大的樣品測試量，使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶環(huán)境的理想選擇。K-Alpha XPS系統(tǒng)使世界各地的研究人員能夠進(jìn)行表面分析。

K-Alpha X 射線光電子能譜儀特點(diǎn)

高性能X射線源

K-Alpha X射線光電子能譜儀配備的X射線單色器允許在50 µm 至 400 µm 的分析區(qū)域內(nèi)以 5 µm 的步長進(jìn)行選擇選擇 ，以尋求所需的信號(hào)。

樣品視圖

使用K-Alpha XPS系統(tǒng)的光學(xué)觀察系統(tǒng)和XPS SnapMap聚焦樣品，幫助您快速確定分析測試區(qū)域。

深度剖析

使用K-Alpha X射線光電子能譜儀所配備的EX06離子源進(jìn)行更深層表面的分析。自動(dòng)源優(yōu)化和氣體處理功能確保的性能和實(shí)驗(yàn)重現(xiàn)性。

優(yōu)異的電子光學(xué)系統(tǒng)

高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實(shí)現(xiàn)的檢測和快速數(shù)據(jù)采集。

數(shù)碼控制

由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)指導(dǎo)的直觀操作使 K-Alpha XPS 系統(tǒng)成為多用戶、測試中心和注重高效操作和高測試量的 XPS 專家的理想選擇。