Prisma E環(huán)境掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Prisma E環(huán)境掃描電鏡具有環(huán)境功能的掃描電鏡，適用于工業(yè)研究和開發(fā)。始終在線的分析能力可提高您的工作效率，并獲取完整的樣品信息。
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡可進(jìn)行高分辨率成像，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。
材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM 參考價(jià)：面議
材料分析透射電鏡 Talos F200X TEM適用于高分辨率 TEM 和 STEM 以及準(zhǔn)確化學(xué)定量的 TEM 顯微鏡。
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM 參考價(jià)：面議
能譜透射電鏡 Talos F200S TEM：4k × 4k Ceta CMOS 攝像機(jī)及其大視野使得可以在整個(gè)高張力范圍內(nèi)以高靈敏度和高速進(jìn)行實(shí)時(shí)數(shù)...
賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
賽默飛（原FEI）鎖相紅外熱成像系統(tǒng)是第一款可為二維和三維器件提供動(dòng)態(tài)無(wú)損實(shí)時(shí) LIT 的集成系統(tǒng)。ELITE 系統(tǒng)的設(shè)計(jì)采用專有的高靈敏度 InSb 攝像頭、...
賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB 參考價(jià)：7000000
賽默飛（原FEI）Helios 5 激光 PFIB這是一臺(tái)先進(jìn)的聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM），可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM 參考價(jià)：面議
300KV透射電鏡Spectra 300 (S)TEM適用于所有材料科學(xué)和半導(dǎo)體應(yīng)用的高分辨率TEM和STEM顯微鏡。
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM 參考價(jià)：面議
冷凍透射電鏡Krios G4 Cryo-TEM使用無(wú)邊緣效應(yīng)成像 (FFI) 可在每個(gè)樣品區(qū)采集更多的圖像，從而提高了圖片采集的日產(chǎn)出。
Volumescope 2 SEM掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Volumescope 2 SEM掃描電鏡適用于對(duì)樣品進(jìn)行大體積連續(xù)切片以及多能量反卷積三維重構(gòu)的SEM掃描電鏡。
Helios 5 Laser PFIB System 參考價(jià)：面議
Helios 5 Laser PFIB System 可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
Glacios 2 冷凍透射電鏡 參考價(jià)：面議
Glacios 2 冷凍透射電鏡可無(wú)縫集成到單顆粒分析和冷凍電子斷層掃描工作流程中，并且可在整個(gè)工作流程中實(shí)現(xiàn)便捷、無(wú)污染的樣本轉(zhuǎn)移。
Nexsa G2 表面分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Nexsa G2 表面分析系統(tǒng)高效的電子透鏡、半球形分析器和檢測(cè)器使其具有的檢測(cè)能力和快速的數(shù)據(jù)采集能力。
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束 參考價(jià)：面議
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡 參考價(jià)：面議
Aquilos 2 Cryo FIB 冷凍聚焦離子束顯微鏡專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 EXL DualBeam 聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于半導(dǎo)體工業(yè)的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實(shí)現(xiàn)全晶圓分析。
等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 Hydra DualBeam具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
集成能譜場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 參考價(jià)：面議
Thermo Scientic™ Apreo™ ChemiSEM™集成能譜場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡實(shí)現(xiàn)了技術(shù)創(chuàng)新，簡(jiǎn)化了分析流程。通過(guò)...
賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
Maps Mineralogy賽默飛礦物參數(shù)自動(dòng)定量分析系統(tǒng)軟件采用Maps軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)采集，而Maps軟件為顯微鏡自動(dòng)化和關(guān)聯(lián)工作流程平臺(tái)，軟件界面直觀，數(shù)據(jù)...
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針 參考價(jià)：面議
ESCALAB QXi X 射線光電子能譜儀微探針ESCALAB QXi的樣品臺(tái)上的所有運(yùn)動(dòng)軸均由 Avantage 數(shù)據(jù)系統(tǒng)控制，儀器上安裝了高分辨率數(shù)碼攝像...
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
K-Alpha X 射線光電子能譜儀系統(tǒng)高效電子透鏡、半球形分析儀和檢測(cè)器，讓K-Alpha X射線光電子能譜儀可實(shí)現(xiàn)的檢測(cè)和快速數(shù)據(jù)采集。
Helios 5 PFIB DualBeam 參考價(jià)：面議
Helios 5 PFIB DualBeam由于新 PFIB 色譜柱可實(shí)現(xiàn) 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優(yōu)異性能，因此可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、無(wú)鎵TE...
Helios 5 DualBeam 參考價(jià)：面議
Helios 5 DualBeam使用的 Thermo Scientific Elstar 電子鏡筒為任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶提供 Thermo Scientific...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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