高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源0.4µm EasyTom / 產(chǎn)品概述
測(cè)試特性：尺寸測(cè)量、材料表征、缺陷分析、內(nèi)部結(jié)構(gòu)無(wú)損檢測(cè)
適用領(lǐng)域：工業(yè)零部件
可以對(duì)工件進(jìn)行高分辨率內(nèi)部可視化和測(cè)量分析，可搭載拉伸、壓縮、彎曲和溫度測(cè)試的原位裝置，鉛窗口支持設(shè)置和掃描期間直接查看樣品，掃描體積為直徑320mm、高530mm，分辨率高達(dá)0.4μm，微米管＆納米管的雙射線源結(jié)構(gòu)，適合中等尺寸零件。
高分辨率微納米工業(yè)CT-射線源0.4µm EasyTom / 產(chǎn)品特點(diǎn)
實(shí)時(shí)高分辨率2D數(shù)字射線成像
提供微米或納米版以及組合版
體素分辨率低至350m/體素
檢測(cè)體積大(直徑x高度:320mmx420mm)
7可編程自動(dòng)控制循環(huán)
可進(jìn)行原位微CT
鋁/鋼結(jié)構(gòu)和X射線聯(lián)鎖裝置，設(shè)計(jì)符合X射線規(guī)定
開放式綜合系統(tǒng)，具有可編程自動(dòng)控制循環(huán)
技術(shù)規(guī)格
機(jī)械 | 微米 | 納米 |
軸數(shù) | 7 | 7 |
zui大SDD3 | 910 mm | 780 mm |
掃描體積 | ?320×530mm | ?320×300mm |
zui大樣品重量 | 30kg | 20kg |
設(shè)備重量 | 3300kg | 2500kg |
外部尺寸 | 2200×1114×2000mm(W×D×H) | 2200×1114×2000mm(W×D×H) |
平板探測(cè)器（選配） | 像素矩陣1920x1536；像素間距127 µm；尺寸25×20 cm 像素矩陣2048x2560；像素間距124 µm；尺寸32×25 cm 像素矩陣3072x3072；像素間距139 µm；尺寸43×43 cm | |
相機(jī)探測(cè)器（選配 | 像素矩陣4008x2672；像素間距9 µm；尺寸36×24 mm | |
X射線管（選配） | 封閉管：zui大電壓130微米；zui大功率39W；zui大分辨率5µm 封閉管：zui大電壓150微米；zui大功率75W；zui大分辨率5µm 開放管：zui大電壓230微米；zui大功率200W；zui大分辨率2µm/4µm 開放管：zui大電壓300微米；zui大功率200W；zui大分辨率4µm 開放管：zui大電壓160微米；zui大功率16W；zui大分辨率0.4µm | |
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